手持式X荧光光谱仪
| 价 格： | 190000.00 | |
| 型号/规格： | EX700 | |
| 品牌/商标： | 环宇 |
EX700型手持式X荧光光谱
| X射线检测器 | 高性能Si-PIN检测器, Peltier制冷器 |
| 分辨率: 优于250eV | |
| Limits : 2 sigma (95% confidence-intervals) | |
| 测量精度 | 塑料模式: PPM |
| 合金模式: 质量的%； PPM | |
| 重量 /尺寸 | 1.4 kg (3.0 lbs). |
| 248 x 273 x 95 mm (9.75 x 10.5 x 3.75 in) | |
| 激发源 | 小型X射线管及供电器(40kV/50μA) |
| 系统电子元件 | Hitachi SH-4 CPU 、ASICS 高速数字讯号处理器、4096频道MCA |
| 电池 | 2只可充电锂电池。 |
| 6-12 小时使用时间, 2~3 小时充电时间。 | |
| 显示 | ? 背景光 VGA触摸式LCD |
| 测试模式 | 塑料模式、合金模式 |
| 滤光片系统 | 2个滤光片系统。Filter 2 特别针对无卤素要求,优化了元素Cl,Cr的检测。 |
| 数据存储 | 内置式：最多可以存储4000个读数以及X射线光谱图 |
| 分析范围 | 塑料模式: Cl, Ti, V, Cr, Fe, Cu, Zn, Se, As, Br, Cd, Sn, Sb, Hg, Pb, Bi, Au, Ni |
| 合金模式: Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Zr, Nb, Mo, Pd, Ag, Br, Cd, In, Sn, Hg, Sb, Al, Pt, Au, Pb, Bi | |
| 标准件 | 样品配件包 – 工作台和100个样品杯组装件 |
| 带锁、防水手提箱 | |
| 防坠落腰套 | |
| 锂电池及护套 | |
| 110/220V 电池充电器 | |
| RS-232 电脑连接线 | |
| 集成的条码扫描器以及可视键盘用来快速准确地输入样品信息 | |
| 辐射安全 | 正确操作EX700(38kV/20uA)的前提下，仪器处于开启状态、没有任何防护措施手握仪器把柄时手指受到的辐射量是 8 μSv/hr 。 |
| 数据输入 | 通过触摸屏、条码扫描器或者通过RS232接口和连接线使用电脑进行操作。也可选配BlueTooth无线通讯设备进行遥控。 |
| 数据输出 | 通过RS-232接口进行数据传输。可以方便地把数据转变成电脑适用的电子表格并定制报告。 |
| 安全 | 具有密码保护功能。 |
| 手提箱 | 坚固，无铅、无镉防水箱，带锁。高强度、防尘防水塑料注塑成型。 |
| 培训 | 交货时免费现场培训一次。 |
| 保养期 | 12个月仪器保修期，包括X射线管。 |
- 所属城市：广东 深圳
- [联系时请说明来自维库仪器仪表网]
- 联系人： 陈先生
- 电话：0755-33927652
- 传真：0755-33927652
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X射线镀层测厚仪
信息内容：TX500型X射线镀层测厚仪 应用范围 电镀、真空镀、化学镀、纳米喷镀 电子、电器、五金、线材、汽车、珠宝首饰等行业的金属镀层、无机镀膜X射线镀层测厚仪分析 性能指标 可测元素： 硫(S)－铀(U) 可测镀层： 最多5层金属镀层、金属基体上单层无机薄膜 镀层种类： 单金属、合金、无机薄膜 精度： 可达0.005um 厚度相对误差： 单层5%，多层5～10% 厚度范围： 轻金属（如：Ti、Cr等）0.01～50um 中金属（如：Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等）0.01～30um 重金属（如：Pt、Au、Pb等）0.01～10um 含量分析范围： 0.0002～100% 含量检出限： 2ppm 含量相对误差： 5～10% 最小测量直径： 0.1mm 分析时间： 30～200S 技术参数 探测器： 进口半导体探测器，分辨率达139eV X光管： 钨（W）靶，电压50kV，电流1.5mA 使用寿命长达5万小时 高压电源： 精密X射线专用电源，输出电压50kV 稳定度每8小时小于0.05% 滤光片： 6组滤光片电动切换，有效降低背景干扰 准直器： 采用的高科技X射线聚焦晶体，最小分析面积至0.1*0.1mm^2 对焦系统： 激光对焦 样品台： 高精度步进电机驱动，XY轴二维移动，步长精确至0.05mm 样品腔： 大气 样品观察： 高清晰彩色CCD射线头 X射线防护： 三...
X荧光测厚仪
信息内容：TX220型X荧光测厚仪 应用范围 镀层测厚分析、电镀液离子浓度分析。适用于电镀、真空镀、离子镀的X荧光测厚仪。 钢铁、有色金属、塑胶、废旧原料回收元素分析 性能指标 可测镀层： 最多5层金属镀层、金属基体上单层无机薄膜 镀层种类： 单金属、合金、无机薄膜 精度： 可达0.01um 厚度相对误差： 单层5%，多层10% 厚度范围： 轻金属（如：Ti、Cr等）0.01～50um 中金属（如：Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等）0.01～30um 重金属（如：Pt、Au、Pb等）0.01～10um 最小测量直径： 2mm 分析时间： 20～100S 技术参数 探测器： 正比计数器 X光管： 钨（W）靶，电压50kV，电流1mA 高压电源： 精密X射线专用电源，输出电压50kV 滤光片： 6组滤光片电动切换，有效降低背景干扰 准直器： 直径8mm、5mm、2mm、1mm、0.5mm、0.2mm电动切换 对焦系统： 旋钮视觉对焦 样品腔： 大气 样品观察： 高清晰彩色CCD射线头 X射线防护： 三重X射线防护（样品腔、机壳、程序控制） 输入电压： AC 220V/50HZ 功耗： 260W 样品腔尺寸： 660×400×135mm 外型尺寸： 680×460×475mm 重量： 40Kg
