X荧光测厚仪
| 价 格： | 120000.00 | |
| 型号/规格： | TX220 | |
| 品牌/商标： | 环宇 |
TX220型X荧光测厚仪 应用范围 性能指标 技术参数 X光管： 钨（W）靶，电压50kV，电流1mA 输入电压： AC 220V/50HZ
镀层测厚分析、电镀液离子浓度分析。适用于电镀、真空镀、离子镀的X荧光测厚仪。
钢铁、有色金属、塑胶、废旧原料回收元素分析
可测镀层： 最多5层金属镀层、金属基体上单层无机薄膜
镀层种类： 单金属、合金、无机薄膜
精度： 可达0.01um
厚度相对误差： 单层5%，多层10%
厚度范围： 轻金属（如：Ti、Cr等）0.01～50um
中金属（如：Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等）0.01～30um
重金属（如：Pt、Au、Pb等）0.01～10um
最小测量直径： 2mm
分析时间： 20～100S
探测器： 正比计数器
高压电源： 精密X射线专用电源，输出电压50kV
滤光片： 6组滤光片电动切换，有效降低背景干扰
准直器： 直径8mm、5mm、2mm、1mm、0.5mm、0.2mm电动切换
对焦系统： 旋钮视觉对焦
样品腔： 大气
样品观察： 高清晰彩色CCD射线头
X射线防护： 三重X射线防护（样品腔、机壳、程序控制）
功耗： 260W
样品腔尺寸： 660×400×135mm
外型尺寸： 680×460×475mm
重量： 40Kg
深圳环宇科学仪器有限公司
公司信息未核实
- 所属城市：广东 深圳
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