X荧光光谱仪
| 价 格： | 180000.00 | |
| 型号/规格： | EX600型 | |
| 品牌/商标： | 环宇 |
EX600型X荧光光谱仪是一款适用于钢铁、有色金属、矿产等行业的元素分析仪。采用进口半导体Si-PIN探测器，具有优良的检测分辨率；相对普通X荧光光谱仪，EX600利用高效X光激发光管，对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发，大大提高了检测效率和工作效率；使用了自动解谱技术分离干扰峰，提高了元素反而分析精度；采用模式识别技术自动识别待测样品，有效地克服基效应对测量带来的影响。 应用领域 钢铁、有色金属主成份、微量元素分析 技术指标 元素测量范围：钠（Na）至铀（U） 检出限：1ppm 测量精度：0.05% ?
标准配置 ? 进口电制冷半导体Si-PIN探测器 数字多道分析系统 低能效率X射线靶材(可选Ag靶、Mo靶、Rh靶等) 可自动切换型准直器和滤光片? 三重X射线防护体系（样品腔、机壳、程序控制）
水泥成分检测
矿料分析
元素含量分析范围：1ppm—99.99%
最多能同时分析元素：24种
可测样品状态：粉末、固体、液体
测量时间：60s—200s?
能量分辨率为：149 eV?
高压范围：5KV—50KV
X光管管流：50uA—1000uA
精密X射线专用高压电源，输出电压50kV
8个旋转样品台
配备300万像素高清晰摄像头
- 所属城市：广东 深圳
- [联系时请说明来自维库仪器仪表网]
- 联系人： 陈先生
- 电话：0755-33927652
- 传真：0755-33927652
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手持式X荧光光谱仪
信息内容：EX700型手持式X荧光光谱 X射线检测器 高性能Si-PIN检测器, Peltier制冷器 分辨率: 优于250eV Limits : 2 sigma (95% confidence-intervals) 测量精度 塑料模式: PPM 合金模式: 质量的%； PPM 重量 /尺寸 1.4 kg (3.0 lbs). 248 x 273 x 95 mm (9.75 x 10.5 x 3.75 in) 激发源 小型X射线管及供电器(40kV/50μA) 系统电子元件 Hitachi SH-4 CPU 、ASICS 高速数字讯号处理器、4096频道MCA 电池 2只可充电锂电池。 6-12 小时使用时间, 2~3 小时充电时间。 显示 ? 背景光 VGA触摸式LCD 测试模式 塑料模式、合金模式 滤光片系统 2个滤光片系统。Filter 2 特别针对无卤素要求,优化了元素Cl,Cr的检测。 数据存储 内置式：最多可以存储4000个读数以及X射线光谱图 分析范围 塑料模式: Cl, Ti, V, Cr, Fe, Cu, Zn, Se, As, Br, Cd, Sn, Sb, Hg, Pb, Bi, Au, Ni 合金模式: Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Zr, Nb, Mo, Pd, Ag, Br, Cd, In, Sn, Hg, Sb, Al, Pt, Au, Pb, Bi 标准件 样品配件包 – 工作台和100个样品杯组装...
X射线镀层测厚仪
信息内容：TX500型X射线镀层测厚仪 应用范围 电镀、真空镀、化学镀、纳米喷镀 电子、电器、五金、线材、汽车、珠宝首饰等行业的金属镀层、无机镀膜X射线镀层测厚仪分析 性能指标 可测元素： 硫(S)－铀(U) 可测镀层： 最多5层金属镀层、金属基体上单层无机薄膜 镀层种类： 单金属、合金、无机薄膜 精度： 可达0.005um 厚度相对误差： 单层5%，多层5～10% 厚度范围： 轻金属（如：Ti、Cr等）0.01～50um 中金属（如：Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等）0.01～30um 重金属（如：Pt、Au、Pb等）0.01～10um 含量分析范围： 0.0002～100% 含量检出限： 2ppm 含量相对误差： 5～10% 最小测量直径： 0.1mm 分析时间： 30～200S 技术参数 探测器： 进口半导体探测器，分辨率达139eV X光管： 钨（W）靶，电压50kV，电流1.5mA 使用寿命长达5万小时 高压电源： 精密X射线专用电源，输出电压50kV 稳定度每8小时小于0.05% 滤光片： 6组滤光片电动切换，有效降低背景干扰 准直器： 采用的高科技X射线聚焦晶体，最小分析面积至0.1*0.1mm^2 对焦系统： 激光对焦 样品台： 高精度步进电机驱动，XY轴二维移动，步长精确至0.05mm 样品腔： 大气 样品观察： 高清晰彩色CCD射线头 X射线防护： 三...
