类型:电子显微镜 型号:XLE-2
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类型:金相显微镜 型号:HN-MXDdzsc/17/9400/17940049.jpg主要用于半导体硅芯片(Silicon Wafer)检测、液晶屏(LCD)检测、导电粒子(Conductive Particles)检查,实验室材料分析及其它精密工程检测领域研究,可对样品进行明场、暗场、微分干涉及偏光观察。 性能特点★系统采用无限远平场消色差、长工作距、明暗场两用物镜,成像清晰、像面平坦★配备反射式科拉照明系统,为不同倍率的物镜提供均匀充足的照明★正像三通观察筒,25°倾斜,极大的提高了观察的舒适性与操作的适应性★配备了6"带离合器机械平台,行程158*158mm,可快速移动★人机学设计,高刚性镜臂,"Y"型底座,调焦机构采用前置式操作控制,粗微调同轴★光源采用宽电压数字调光技术,具有光强设定与复位功能★可选配摄影摄像装置、简易偏光装置、干涉滤光片、测微尺等附件,拓展应用领域技术参数光学系统无限远色差校正光学系统物镜无限远平场消色差,长工作距金相物镜(明暗场两用),5X、10X、20X、50X、80X目镜高眼点平场目镜,PL10X,线视场φ22mm高眼点平场目镜,PL15X,线视场φ16mm观察筒正像,铰链式三目,25°倾斜,分光比:双目100%,三目100%照明系统反射式科拉照明...