品牌:台湾衡欣 型号:AZ8895
特点:
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规格:
温度范围 | -40℃ ~ +816℃ |
分辩率 | 0.1℃, 0.1℉ |
准确度 | ±2%或±2℃ |
反应时间 | 500ms |
发射率 | 可调:0.3~1.0 |
距离目标比(D:S) | 12:1 |
形状 | 枪型 |
尺寸 | 195mm(L)x134mm(W)x50mm(H) |
重量 | 260g |
供电电源 | 9V电池 |
附件 | 携带盒,电池,使用说明书。 |
类型:金相显微镜 型号:HN-MXDdzsc/17/9400/17940049.jpg主要用于半导体硅芯片(Silicon Wafer)检测、液晶屏(LCD)检测、导电粒子(Conductive Particles)检查,实验室材料分析及其它精密工程检测领域研究,可对样品进行明场、暗场、微分干涉及偏光观察。 性能特点★系统采用无限远平场消色差、长工作距、明暗场两用物镜,成像清晰、像面平坦★配备反射式科拉照明系统,为不同倍率的物镜提供均匀充足的照明★正像三通观察筒,25°倾斜,极大的提高了观察的舒适性与操作的适应性★配备了6"带离合器机械平台,行程158*158mm,可快速移动★人机学设计,高刚性镜臂,"Y"型底座,调焦机构采用前置式操作控制,粗微调同轴★光源采用宽电压数字调光技术,具有光强设定与复位功能★可选配摄影摄像装置、简易偏光装置、干涉滤光片、测微尺等附件,拓展应用领域技术参数光学系统无限远色差校正光学系统物镜无限远平场消色差,长工作距金相物镜(明暗场两用),5X、10X、20X、50X、80X目镜高眼点平场目镜,PL10X,线视场φ22mm高眼点平场目镜,PL15X,线视场φ16mm观察筒正像,铰链式三目,25°倾斜,分光比:双目100%,三目100%照明系统反射式科拉照明...
类型:金相显微镜 型号:XLE-1大平台检测显微镜XLE-1型大平台检测显微镜是专为IT行业大面积集成电路,晶片的质量检测而设计开发制造的。主体为:正置式、三目镜筒,比传统的显微镜更适合于观察。上部安装彩色摄像机连接彩色监视器直接观察。可连接计算机打印报告、照片或连接数码相机,照相机直接拍照,还可以直接进行图像记录,并建立技术检测档案,存储、查询,可省去复杂烦琐的摄影,洗印等暗室工作,大大的提高了工作效率。 检测显微镜具有独特的特点: 1)放大倍数:40倍至500倍; 2)超大型载物台,样品可作大范围的纵、横方向快、慢速移动,扩大检测领域的使用范围,适用于电子、冶金、机械、化工、科研、院校等部门,以及金相技术检验,失效分析等。 主要技术参数1.机械筒长 160mm2.物镜放大倍数 数值孔径有效工作距离(mm)介质4×0.1017.912干10×0.256.544干20×0.401.05干40×0.650.736干3.目镜放大倍数焦距视场直径备注10×2518 12.5×2514选配4.放大倍数 40×--500×5.载物台面积 350mm×255mm 纵向移动范围---200mm 横向移动范围---200mm6.粗微动调焦范围 25mm,微调转动一圈样品升降0.2mm...