供应晶体测试仪(图)
| 价 格： | 450.00 |
计量单位:台 最小起订量:不限 供货总量:不限 发货期限:7（天内发货）
XT-150D克服了模拟晶体阻抗计功能单一、可靠性差，读数不直观的缺点，采用技术，自带频率和频差（ppm）测量功能，等效电阻，负载电容和静电容数字化显示。可以设定频差上下限，对合格品，仪器会语音告知测试者，减轻了劳动强度，提高了工作效率，是一项高品质的智能化产品。
主要测试项目：
1． 晶体的串联谐振频率FS。
2． 晶体的负载谐振频率FL。
3． 晶体的串联谐振电阻RR。
4． 晶体的负载谐振电阻RL。
5． 晶体的静电容C0。
6． 晶体的负载电容CL。
7． 晶体的频差ppm或KHz。
技术指标：
1． 晶体频率测量范围：3―――６０ＭＨｚ。
2． 等效电阻测量范围：０―――２００Ω。
3． 静电容测量范围： ０―――２０ＰＦ。
4． 负载电容的调整范围：１０―――４０ＰＦ。
5． 激励电平的调整范围：１０―――５００ｕＷ。
6． 晶体等效电阻的测量误差：≤５％。
7． 激励电平误差： ≤５０％。
8． 工作温度范围： ＋１５―――＋３５℃。
9． 时基稳定度（10MHz）： 5×10-7
10． 电源电压： ２２０Ｖac ＋／－１０％。
11． 功耗： ≤１５W。
深圳市亿博兰电子有限公司
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