导电型号测试仪 电导测试仪
| 价 格： | 126.00 |
类型:导电型号测试仪 品牌:恒奥德 型号:KDK-STY-1 测量范围:见资料（MΩ）
导电型号测试仪型号：KDK-STY-1
dzsc/17/5520/17552001.jpg产品名称：导电型号测试仪 产品型号：KDK-STY-1 生产厂商：北京恒奥德仪器仪表有限公司 产品编号： 产品单价： 所属栏目：热卖产品 产品简介 KDK-STY—1型导电型号测试仪是严格按照ASTM F42（非本征半导体材料导电类型的标准测试方法）中的热探针法设计的导电类型鉴别仪。本仪器热探笔内装有加热和控温组件，自动加热并使温度维持在40-60℃范围内，冷热探笔在半导体材料上产生的热电动势，经低噪声、低漂移的集成运算放大器放大后，用宽表面检流计指示型号方向，并可定量测出热电流的数值大小。仪器灵敏度可调，可在广泛的电阻率（从1000Ω·cm高阻单晶到10-4Ω·cm重掺单晶）范围内判别半导体材料型号。 二、技术性能1、可判别锗、硅材料的电阻率范围： 锗：非本征锗～10-4Ω·cm 硅：104～10-4Ω·cm 实验证明：在室温情况下，对于电阻率低于1000Ω·cm的N型和P型硅，本方法结果可靠。2、热电流测量范围：0～±1μA 分六个量程：±3nA、±10nA、±30nA、±100nA、±300nA、±1μA偏转灵敏度：1×10-11A/格3、锗、硅单晶直径及长度：不受限制。4、显示方式：中心刻度为零位的宽表面指针指示器，指针向正方向偏转被测样品为P型，指针向负方向偏转被测样品为N型。5、探针：选用ASTM F42标准中建议的不锈钢作探针材料，针尖为60°锥体，热笔温度自动保持在40-60℃范围内。冷笔与室温相同。6、电源及功耗：AC 220V±10%，50HZ交流供电，耗电小于10W。7、外型尺寸：170×160×230（mm）8、重量：约2.5kg
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高频光电导少子寿命测试仪 电导测试仪
信息内容：类型:高频光电导少子寿命测试仪 品牌:恒奥德 型号:KDK-TL-1C 测量范围:见资料（MΩ）高频光电导少子寿命测试仪型号：KDK-TL-1Cdzsc/17/5520/17552009.jpg产品名称：KDK-TL-1C高频光电导少子寿命测试仪产品型号：KDK-TL-1C生产厂商：北京恒奥德仪器仪表有限公司产品编号：产品单价：所属栏目：热卖产品产品简介1、 用途用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量，除需要有一个测量平面外，对样块体形无严格要求，可测块状和片状单晶寿命。寿命测量可灵敏地反映单晶体内重金属杂质污染及缺陷存在的情况，是单晶质量的重要检测项目。2、 设备组成2.1、光脉冲发生装置重复频率＞25次/s 脉宽＞60μｓ 光脉冲关断时间＜1μｓ红外光源波长：1.06～1.09μm（测量硅单晶） 脉冲电流：5A～20A如测量锗单晶寿命需配置适当波长的光源2.2、高频源频率：30MHz 低输出阻抗 输出功率＞1W2.3、放大器和检波器频率响应：2Hz～2MHz2.4、配用示波器配用示波器：频带宽度不低于10MHz，Y轴增益及扫描速度均应连续可调。3、测量范围可测硅单晶的电阻率范围：ρ≥0.1Ω·㎝（欧姆·厘米）寿命值的测量范围：5～6000μｓ（微秒）
