高频光电导少子寿命测试仪 电导测试仪
| 价 格： | 126.00 |
类型:高频光电导少子寿命测试仪 品牌:恒奥德 型号:KDK-TL-1C 测量范围:见资料（MΩ）
高频光电导少子寿命测试仪型号：KDK-TL-1C
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产品名称：KDK-TL-1C高频光电导少子寿命测试仪 产品型号：KDK-TL-1C 生产厂商：北京恒奥德仪器仪表有限公司 产品编号： 产品单价： 所属栏目：热卖产品 产品简介 1、 用途用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量，除需要有一个测量平面外，对样块体形无严格要求，可测块状和片状单晶寿命。寿命测量可灵敏地反映单晶体内重金属杂质污染及缺陷存在的情况，是单晶质量的重要检测项目。2、 设备组成2.1、光脉冲发生装置重复频率＞25次/s 脉宽＞60μｓ 光脉冲关断时间＜1μｓ红外光源波长：1.06～1.09μm（测量硅单晶） 脉冲电流：5A～20A如测量锗单晶寿命需配置适当波长的光源
2.2、高频源频率：30MHz 低输出阻抗 输出功率＞1W2.3、放大器和检波器频率响应：2Hz～2MHz2.4、配用示波器配用示波器：频带宽度不低于10MHz，Y轴增益及扫描速度均应连续可调。3、测量范围可测硅单晶的电阻率范围：ρ≥0.1Ω·㎝（欧姆·厘米）寿命值的测量范围：5～6000μｓ（微秒）
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供应电流传感器/传感器
信息内容：品牌:恒奥 型号:HAD-CHB-20KA-2.5WA 种类:流量 制作工艺:见资料 输出信号:数字型电流传感器型号:HAD-CHB-20KA-2.5WA 额定值 20000A频率(Hz) 0～100K测量范围 25000A输出值4A精度0.4%匝数比1:5000测量电阻 0-1(Ω)失调值 <±0.8mA电源Vc(V）±40～50耗电(mA）90+Im绝缘电压(kv)10工作温度(℃)-25～+70重量(kg)40原边窗口 162×188电流传感器dzsc/17/5561/17556199.jpg
