晶圆测试探针台
| 价 格： | 0.10 |
品牌:semishare 型号:BD-8 用途:晶圆测试，半导体器件测试
| SH系列手动/半自动晶圆探针台，针对6/8/12英寸晶圆有SH6/SH8/SH12之型号,方便加装探针卡进行多Die重复测试，另可加载加热卡盘和根据客户需求改制。 型号SH-8晶圆测试探针台规格说明 特点 | ||
| 同轴驱动CHUCK | ||
| 可以升级做射频测试 | ||
| 20X~4000X 光学显微放大 | ||
| 无后座力移动 | ||
| 针座平台可以快速升降便于wafer取放 | ||
| 针座平台可以微调升降便于探针卡再定位 | ||
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| 规格 | ||
| 真空吸附型Chuck | 8" 不锈钢 | |
| Chuck X-Y轴行程 | 8" x8" | |
| Chuck 旋转角度 | 0~30 度 | |
针座平台上下粗调行程 | 6mm 通过升降杆调整 | ||
| 针座平台上下细粗行程 | 25 mm 通过旋转手轮 | |
| 针座平台 | 可以放置12 针座 | |
| 显微镜X-Y轴行程 | 1" x1" | |
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| 需求 | ||
| 电力 | 110 VAC, 60Hz | |
| 真空 | -250 mmHg, 7 liter/min | |
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| 尺寸 | ||
| 780mm长 x 660mm宽 x 700mm高（带显微镜） | ||
| 重 80 Kg（带显微镜） | ||
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| 可选附件 | ||
| Chuck快速拉出装置 | ||
| 显微镜倾仰装置 | ||
| 激光切割 | ||
| 探针卡夹具 | ||
| 加热台 | ||
| 防震桌 | ||
| 暗场 / Normarski 检测 | ||
| 带真空底座的活动Chuck | ||
| 光强/波长测试接口部件 | ||
| 射频测试探头和线缆 | ||
| 有源探头 | ||
| 低电流/电容测试 | ||
| 高压测试 | ||
| 超声切割 | ||
| 视频系统 | ||
| 显微拍照系统 | ||
| 封装器件夹具 | ||
| PCB板夹具 | ||
| 液晶套装 | ||
| 屏蔽箱 | ||
| 测试平台 | ||
| 带脚轮的仪器柜 | ||
| 真空吸附型Chuck | ||
| 镀金Chuck | ||
- 所属城市：广东 深圳
- [联系时请说明来自维库仪器仪表网]
- 联系人： 谭
- 电话：0755-26906952
- 传真：0755-26906952
- 手机：
- QQ ：
供应表面电阻率测试探针台
信息内容：品牌:everbeing 型号:SR系列 用途:测试表面电阻率表面电阻率测试探针台 可测试12" 8" 6" 晶圆或者LCD基片除了针对标准的2"~12" (50mm~300mm) 基片表面电阻率的测试，我们欢迎客户定制，定制之前请按照以下步骤先确定规格：对于尺寸大于300mmx300mm的基片1. 基片具体是哪一种材质？2. 基片尺寸有多大？ 3. 探针台选用下面哪一种移动方式？a.) 基片固定，测试头可以水平移动和上下移动。 基片越大，越节省空间。b.) 基片可以水平移动，测试头只能上下移动。4. 采用哪一种驱动方式？ 手动测试，半自动化，或者选用自动化。5. 测试时是否需要在特定温度？对于需要高温环境的基片测试基片加热台通过PID控制，可以设定测试温度。加热台通过右边的真空鼠形垫控制做环形移动。在某个位置时，打开真空按钮，真空垫会被吸附在平板上，加热台同时被锁定位置，这时，4针探头可以下压测试。测试完毕，测试头升起，样品台移动到下一个测试位置。1. 测试温度需要多高？ 150，300，400，500摄氏度？2. 测试头选择手动下压还是气动下压？ 3. 是否需要保护盒？4. 是否需要水冷箱？
供应简易型测试探针台
信息内容：品牌:everbeing 型号:PE 用途:4英寸以下样品测试 型号:PE-4 迷你型探针台 特点 紧凑的结构 轻巧的重量 实惠的价格 可以做光电方面测试应用 LED/LD/PD的光强/波长测试 可以进行射频测试，加装东/西方向针座 适合大学实验室通用 适合4"以下晶圆测试 Chuck通过x-y方向丝杠驱动 无后座力移动 规格 真空吸附型CHUCK 4" 不锈钢材质 Chuck 行程 X-Y方向行程3" x3" Chuck 可旋转角度 0~30 ° 平台 可放置6 个针座 需求 电力 110 VAC, 60Hz 真空 -250 mmHg, 7 liter/min 尺寸 320mm长 x 320mm宽 x 400mm高 （带显微镜） 重 20 Kg （带显微镜） 可选附件 Chuck推拉装置 带真空底座的活动Chuck 显微镜倾仰装置和快速右倾装置 光强/波长测试接口部件 射频测试探头和线缆 有源探头 低电流/电容测试 高压测试...
