供应模拟、线性电路老化测试夹具(IC测试治具)
| 价 格： | 面议 | |
| 型号/规格： | GLB2 | |
| 品牌/商标： | 鸿腾电器 |
模拟、线性电路老化测试夹具(IC测试治具)
该系列夹具供贴片封装的模拟集成电路老化、测试、筛选作连结之用(间距1.27mm)。
产品型号及规格；
GLB-14 GLB-18 GLB2-18J
主要技术指标；
间距；1.27mm 环境温度；-55℃—+155℃ 接触电阻；≤0.01欧
工作电压；DC500V 单脚插入力；≤0.2Kg 弹片金层厚度；2umAu:lu(镍金）
- 所属城市：江苏 扬州
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- 联系人： 黄克鸿
- 电话：0514-87881291
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供应QFP封装集成电路老化测试夹具(IC测试治具)
信息内容：QFP封装集成电路老化测试夹具(IC测试治具) 该系列夹具适用于FPQ封装的片状集成电路及阻容器件的老化、测试、筛选及可靠性试验作连 接之用。产品广泛运用于航空航天、军工、科研院所、电子、通讯. 产品型号及规格； FP-16J 主要技术指标； 间距；1.27mm 环境温度；-55℃—+155℃ 接触电阻；≤0.01欧 工作电压；DC500V 弹片金层厚度；2umAu:lu(镍金）
供应晶体管老化测试座
信息内容：晶体管老化测试座 该插座适用于TO-92、94、39、220、TO-3、TO-3P等系列封装的晶体管，可供二脚、三脚、四脚晶体管、塑封管的高、低温老化、筛选及性能测试作连接之用。该产品广泛运用于航空航天、军工、科研院所、电子、通讯。 产品型号及规格； 大功率晶体管插座;F0、F1、F2、F4、TO-3P （适用于TO-3系列封装的大功率晶体管的老化、测试、筛选） 中功率晶体管插座；CSZ-3、CSZ-4、TO-220 CY-4（适用于TO-220及金属壳系列封装的中功率晶体管的老化、测试、筛选） 小功率晶体管插座；CSX-3、CSX-4（适用于TO-92、94系列封装的小功率晶体管的老化、测试、筛选） 二极管老化测试插座：TO-2 主要技术指标； 环境温度；-20℃—+255℃ 接触电阻；≤0.01欧 工作电压；DC500V 单脚插入力；≤0.2Kg 弹片金层厚度；1um镍3um金 高低温状态下插拔寿命；2000-3000次
