晶体管老化测试座 该插座适用于TO-92、94、39、220、TO-3、TO-3P等系列封装的晶体管,可供二脚、三脚、四脚晶体管、塑封管的高、低温老化、筛选及性能测试作连接之用。该产品广泛运用于航空航天、军工、科研院所、电子、通讯。 产品型号及规格; 大功率晶体管插座;F0、F1、F2、F4、TO-3P (适用于TO-3系列封装的大功率晶体管的老化、测试、筛选) 中功率晶体管插座;CSZ-3、CSZ-4、TO-220 CY-4(适用于TO-220及金属壳系列封装的中功率晶体管的老化、测试、筛选) 小功率晶体管插座;CSX-3、CSX-4(适用于TO-92、94系列封装的小功率晶体管的老化、测试、筛选) 二极管老化测试插座:TO-2 主要技术指标; 环境温度;-20℃—+255℃ 接触电阻;≤0.01欧 工作电压;DC500V 单脚插入力;≤0.2Kg 弹片金层厚度;1um镍3um金 高低温状态下插拔寿命;2000-3000次
LJZ型双列集成电路老化测试插座 该系列插座适用于DIP封装的双列直插式集成电路的老化、测试、筛选及可靠性试验作连接之用。该产品广泛运用于航空航天、军工、科研院所、电子、通讯产品型号及规格; LJZ-8J、14、16、18、24、28、40主要技术指标; 间距;2.54mm 环境温度;-55℃—+155℃ 接触电阻;≤0.01欧 工作电压;DC500V 单脚插入力;≤0.2Kg 弹片金层厚度;1um镍3um金
单排DIP封装集成电路老化测试座 该系列插座适用于DIP封装的单排直插式集成电路的老化、测试、筛选及可靠性试验作连接之用。该产品广泛运用于航空航天、军工、科研院所、电子、通讯 产品型号及规格; IC-10J主要技术指标; 间距;2.54mm 环境温度;-55℃—+255℃ 接触电阻;≤0.01欧 工作电压;DC800V 单脚插入力;≤0.2Kg 弹片金层厚度;1um镍3um金插拔寿命;高低温状态下插拔寿命;2000-3000次