差分前置放大器
| 价 格： | 面议 | |
| 型号/规格： | 5186 | |
| 品牌/商标： | Signal Recovery |
输入
输入方式 true differential.
耦合 AC
阻抗 100 兆欧// 20 pF
频率响应 0.5 Hz to 1 MHz
C.M.R.R.
x1000 gain > 110 dB (100 Hz to 1 kHz)
x10 or x100 gain > 90 dB (100 Hz to 1 kHz)
共模输入电压, x1000 gain 5 V pk-pk
安全电压 ±15 V DC or 10 V rms. AC @ 50 Hz
噪声 Typically 4 nV√Hz @ 1 kHz and x1000 gain, 10 nV/√Hz @ 1 kHz and x10 or x100 gain
增益 x10, x100 or x1000 可调
增益精度 ±1%
增益稳定度 ±150 ppm/degree C
输出
阻抗 450 欧
电压摆幅 >10 V pk-pk
电压转换速率 > 22 V/µs
失真度 < 0.01% T.H.D.
- 主要特点
- 仪器介绍
- 所属城市：北京 北京市
- [联系时请说明来自维库仪器仪表网]
- 联系人： 王先生
- 电话：010-65202180
- 传真：010-65202182
- 手机：
- QQ ：
薄膜厚度测量仪
信息内容：技术参数 活动范围 150 x 120mm(70 x 50mm 移动距离) 测量范围 200Å~ 35㎛(根据膜的类型) 光斑尺寸 20㎛ 典型值 测量速度 1~2 sec./site 应用领域 聚合体: PVA, PET, PP, PR ... 电解质: SiO2 ,TiO2 , ITO , ZrO2 , Si3N4 .. 半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS... 选择 参考样品(K-MAC or KRISS or NIST) 探头类型 三目探头 nosepiece Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt 照明类型 12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer 主要特点 尺寸 190 x 265 x 316 mm 重量 12Kg 类型 手动的 测量样本大小 ≤ 4" 测量方法 非接触式 测量原理 反射计 特征 测量迅速，操作简单 非接触式，非破坏方式 的重复性和再现性 用户易操作界面 每个影像打印和数据保存功能 可测量多达3层 可背面反射 仪器介绍 1996年以来，科美在半导体，平板显示器，电子物质，生命科学和化学分析上，研发和提供了独特的，先进的解决方案。科美，作为测量和分析技术市场上的领头和动力，以它突出的表现得到了世界范围的认可。
薄膜厚度测量仪
信息内容：技术参数 活动范围 200mm x 200mm(8"), 300mm x 300mm(12") 测量范围 100Å~ 35㎛(Depends on Film Type) 光斑尺寸 40㎛/20㎛, 4㎛(option) 测量速度 1~2 sec./site 应用领域 All Capability of ST2000 & More Precision Measurement Intended for Wafer Measurement & OLED 选项 Programmable Auto Z Stage 参考样品(K-MAC or KRISS or NIST) 焦点 Coaxial Coarse and Fine Focus Controls 附带照明 12v 100W Halogen Lamp 主要特点 尺寸 500 x 610 x 640 mm 重量 45Kg 类型 手动的 测量样本大小 ≤ 8", 12" 测量方法 无连接的 测量原理 反射计 特点 测量迅速，操作简单 非接触式，非破坏方式 Print Function of Each View & Data Saving 仪器介绍 1996年以来，科美在半导体，平板显示器，电子物质，生命科学和化学分析上，研发和提供了独特的，先进的解决方案。科美，作为测量和分析技术市场上的领头和动力，以它突出的表现得到了世界范围的认可。
