老化测试座系列

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老化测试座系列	适合封装
SMD 系列老化测试座	SOT23-3（1.3） SOT23-3（1.7） SOT23-5 SOT23-6 SOT323 SOT353 SOT363（SC70） SOD123 S0D323 SOD523 SC75 SOT89 SOT223 POWERDI123 POWERDI5 SMA SMB SMC
DIP 系列老化测试座	8 14 16 18 20 24 24 28 30 32 40 48
TO系列老化测试座	TO-92 TO-220 TO-3P TO252 TO263 圆4脚圆12脚圆14脚
SOP系列老化测试座	8 14 16 22 24 26 28
QFN系列老化测试座	1006Q2 1006Q3 2×5 6×5
二极管、桥堆系列老化测试座	DF KBP KBJ GBJ GBU GBPC KBPC-G DPAK D2PACK TO-220 TO-3P DF SMA SMB SMC D0-3
F1、F2 老化测试座	F1 F2
贴片电容系列老化测试座	0603 0805 1210 1812 2225
LCC、PLCC老化插座	LCC18、LCC20、LCC24、LCC28、LCC68、PLCC18、 PLCC20、PLCC22 PLCC28、 PLCC32、PLCC44、PLCC52 、PLCC68、 PLCC84
DC/DC模块系列老化测试座	有十多个品种可供选择
保险丝、电阻、总线插座	保险丝电阻电路板
总线插座	印刷电路板、老化板

杭州汉瑞电子有限公司

公司信息未核实

所属城市：浙江
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联系人： 销售部
电话：0571-86818188
传真：0571-88491830
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老化测试设备系列

信息内容：

型号名称主要功能、用途 HRD-50 恒流源二端器件的恒流老化 HR-640 电容器老化系统各种封装电容器高温老化（电脑监控、记录） HR-200 高低温循环测试系统高低温环境中对二极管、三极管、桥堆、MOS管进行电性能测试（电脑监控、记录） HR-2480R 高温反偏试验台（HTRB）二极管、三极管、桥堆HTRB试验 MOS管HTRB/HTGB试验 HR-1680RT 高温反偏试验台（HTRB）二极管、三极管、桥堆HTRB试验 MOS管 HTRB/HTGB试验电脑监控、记录 HR-1680R 高温反偏试验台（HTRB）二极管、三极管、桥堆HTRB试验 MOS管 HTRB/HTGB试验 HRD-60 二极管恒流试验系统二端器件的恒流老化 HR-3000 集成电路老化系统集成电路高温动态老化（电脑监控、记录） HR-1680-OPL 分立器件老化系统二极管、三极管、桥堆、MOS管 OP-LIFE试验 HR-8160PC 功率循环寿命试验台二极管、三极管、桥堆、MOS管 POWERCIRCLE试验

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