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型 号
名 称
主 要 功 能、用 途
HRD-50
恒流源
二端器件的恒流老化
HR-640
电容器老化系统
各种封装电容器高温老化（电脑监控、记录）
HR-200
高低温循环测试系统
高低温环境中对二极管、三极管、桥堆、MOS管进行电性能测试（电脑监控、记录）
HR-2480R
高温反偏试验台（HTRB）
二极管、三极管、桥堆HTRB试验 MOS管HTRB/HTGB试验
HR-1680RT
二极管、三极管、桥堆HTRB试验 MOS管 HTRB/HTGB试验电脑监控、记录
HR-1680R
二极管、三极管、桥堆HTRB试验 MOS管 HTRB/HTGB试验
HRD-60
二极管恒流试验系统
HR-3000
集成电路老化系统
集成电路高温动态老化（电脑监控、记录）
HR-1680-OPL
分立器件老化系统
二极管、三极管、桥堆、MOS管 OP-LIFE试验
HR-8160PC
功率循环寿命试验台
二极管、三极管、桥堆、MOS管 POWERCIRCLE试验
杭州汉瑞电子有限公司成立于 1999 年，从事半导体元器件 老化测试座、老化测试板、老化测试设备的开发和生产 。 公司投入大量资金和人力在短短六年间先后开发了 11 类 90 多个品种的高温 老化测试座，一改过去老化测试座清一色进口的局面，不仅为广大客户降低了成本，而且大大缩短了采购周期。 2002 年老化测试板系列质量全面升级，使用寿命延长 50% 以上，高温老化板整体品质国内同行，处于国际地位。 2003 年，公司通过 ISO9001-2000 认证，同年产品开始进入国际市场。 在全球半导体制造商中，公司已经拥有不少的客户，并与他们一直友好合作。 公司拥有经验丰富的人才和齐全的生产设备，随时可为您提供高效优质的服务。
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