型号/规格:S1400D-LCD70#$东京精密%^71#$贸易商%^143#$全新%^72#$日本
产品描述:东京精密S1400D-LCD手机玻璃光洁度台阶仪多少钱,东京精密S1400D-LCD手机玻璃光洁度台阶仪市场报价,东京精密S1400D-LCD手机玻璃光洁度台阶仪总代理商-武汉科...
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型号/规格:XT102#$%^103#$%^139#$%^104#$
产品描述:布鲁克DektakXT (探针式表面轮廓仪)设计,实现了更高的重复性和分辨率,垂直高度重复性<5?。这一里程碑式的产品源自于Dektak系列占据业界长达四十年的优异...
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型号/规格:NanoMap-PS70#$%^71#$%^143#$%^644#$%^72#$
产品描述:台阶仪 厚度47nm光栅标准样品,三次重复测量结果(减噪修正,原始数据输出)NanoMap-PS是一款专门为nm级薄膜测量...
型号/规格:NanoMap-PS70#$%^71#$%^143#$%^644#$%^72#$
产品描述:台阶仪 厚度47nm光栅标准样品,三次重复测量结果(减噪修正,原始数据输出)NanoMap-PS是一款专门为nm级薄膜测量...
布鲁克(Bruker)台阶仪第十代探针式表面轮廓仪DektakXT
型号/规格:DektakXT
产品描述:布鲁克 DektakXT 台阶仪(探针式表面轮廓仪)是一项性的设计,可以提供更高的重复性和分辨率,测量重复性可以5?。第十代DektakXT 台阶仪(探针式表面轮廓仪)...
布鲁克(Bruker)台阶仪第十代探针式表面轮廓仪DektakXT
型号/规格:DektakXT
产品描述:布鲁克 DektakXT 台阶仪(探针式表面轮廓仪)是一项性的设计,可以提供更高的重复性和分辨率,测量重复性可以5?。第十代DektakXT 台阶仪(探针式表面轮廓仪)...
型号/规格:ET150
产品描述:产品特点: 二次元表面解析,可测量段差 高、高分辨率和良好的再现性 FPD面板显示,可测定微细表面形状、段差、粗度等 低测定力,可测定软质材料
型号/规格:ET150
产品描述:产品特点: 二次元表面解析,可测量段差 高、高分辨率和良好的再现性 FPD面板显示,可测定微细表面形状、段差、粗度等 低测定力,可测定软质材料
型号/规格:ET200
产品描述:KOSAKA ET200基于 Windows XP操作系统为多种不同表面提供的形貌分析,包括半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物器件、薄...
型号/规格:ET200
产品描述:KOSAKA ET200基于 Windows XP操作系统为多种不同表面提供的形貌分析,包括半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物器件、薄...
产品描述:集40多年的探针轮廓技术于一身,该系统在行业内的表现,以重现性和标准扫描范围而著称。它提供各种各样的配置和附加选项,用于程序化测量、低探针力表征和细...
产品描述:集40多年的探针轮廓技术于一身,该系统在行业内的表现,以重现性和标准扫描范围而著称。它提供各种各样的配置和附加选项,用于程序化测量、低探针力表征和细...
产品描述:探针式轮廓仪(台阶仪/膜厚仪)Dektak XT 布鲁克 Dektak XT 台阶仪(探针式表面轮廓仪)是一项性的设计,可以提供的重现性,重现性低于5&#197;。台阶...
产品描述:探针式轮廓仪(台阶仪/膜厚仪)Dektak XT 布鲁克 Dektak XT 台阶仪(探针式表面轮廓仪)是一项性的设计,可以提供的重现性,重现性低于5&#197;。台阶...
型号/规格:ET200
产品描述:供应日本KOSAKA台阶仪ET200——上海/苏州/无锡/南京/天津/北京/武汉/西安/杭州/济南/广州 KOSAKA LAB ET 200微细形状测定机(探针接触式台阶仪) ...
型号/规格:ET200
产品描述:供应日本KOSAKA台阶仪ET200——上海/苏州/无锡/南京/天津/北京/武汉/西安/杭州/济南/广州 KOSAKA LAB ET 200微细形状测定机(探针接触式台阶仪) ...