型号/规格:BN-ZQ
产品描述:该试验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二管、液晶LCD、芯片电阻电容、组件产业电子组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验;半导体、被动组...
型号/规格:BN-ZQ
产品描述:该试验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二管、液晶LCD、芯片电阻电容、组件产业电子组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验;半导体、被动组...
型号/规格:HE-9721
产品描述:HE-9721蒸气老化试验箱 适用范围: 适用于各电子连接器,被动元件及各具沾锡之电子产品,合安规MTL-STP-208F,202 1、内部尺寸:50cm(W)×40c...
型号/规格:HE-9721
产品描述:HE-9721蒸气老化试验箱 适用范围: 适用于各电子连接器,被动元件及各具沾锡之电子产品,合安规MTL-STP-208F,202 1、内部尺寸:50cm(W)×40c...
型号/规格:XK
产品描述:蒸气老化试验箱/蒸汽老化试验机/老化试验机详细介绍: 蒸气老化试验箱/蒸汽老化试验机/老化试验机适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二管、液晶LCD、芯片电...
型号/规格:XK
产品描述:蒸气老化试验箱/蒸汽老化试验机/老化试验机详细介绍: 蒸气老化试验箱/蒸汽老化试验机/老化试验机适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二管、液晶LCD、芯片电...
型号/规格:BN-ZQ
产品描述:该试验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二管、液晶LCD、芯片电阻电容、组件产业电子组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验;半导体、被动组...
型号/规格:BN-ZQ
产品描述:该试验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二管、液晶LCD、芯片电阻电容、组件产业电子组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验;半导体、被动组...
型号/规格:HJ-ZQ100
产品描述:一.箱体说明:1. 内箱尺寸:50(W)×40(D)×17(H)cm2. 外箱尺寸:60(W)×50(D)×42(H)cm3. 单槽内尺寸:9(W)×40(D...
型号/规格:HJ-ZQ100
产品描述:一.箱体说明:1. 内箱尺寸:50(W)×40(D)×17(H)cm2. 外箱尺寸:60(W)×50(D)×42(H)cm3. 单槽内尺寸:9(W)×40(D...