该试验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二管、液晶LCD、芯片电阻电容、组件产业电子组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验;半导体、被动组件、件接脚氧化试验。微电脑温度控制器、LED数字显示，PID+SSR控制,白金电阻温度传感器（PT-100），解析度0.1℃，全自动保护装置。
技术规格参数：
型号：BN-ZQ
内部尺寸：500×400×170（W×H×D）mm ；
外部尺寸:600×500×420（W×H×D）mm ；
内外箱体材质：SUS304#优质不锈钢板；
保温层：PV发泡胶
升温时间:大约40分钟 ；控制功能:PID+SSR,数字式显示；
蒸气温度: 97℃ ；
计时功能：1～9999分钟，附时到报警功能，时间到达后切断电源 ；
水位控制：附水箱自动补水 ；
电源：1Ø 220V±10% 50Hz 3.0KW
技术规格参数：
型号：BN-ZQ
内部尺寸：500×400×170（W×H×D）mm ；
外部尺寸:600×500×420（W×H×D）mm ；
内外箱体材质：SUS304#优质不锈钢板；
保温层：PV发泡胶
升温时间:大约40分钟 ；控制功能:PID+SSR,数字式显示；
蒸气温度: 97℃ ；
计时功能：1～9999分钟，附时到报警功能，时间到达后切断电源 ；
水位控制：附水箱自动补水 ；
电源：1Ø 220V±10% 50Hz 3.0KW