方块电阻测试仪

型号/规格：ST-213072#$%^3073#$%^3074#$%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$

产品描述：方块电阻测试仪是一种依照类似的准和美国A..T.M准，专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的仪器，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜...

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型号/规格：ST-21L3072#$%^3073#$%^3074#$%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$

产品描述：特点： 1 采用大规模集成电路作为仪器的主要部，测量准确稳定，低功耗； 2 以大屏幕LCD显示读数，直观清晰； 3 采用单个电池供电，带电池...

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型号/规格：ST-21L1986#$%^1181#$%^1182#$%^1183#$%^1184#$%^1185#$%^1186#$%^1187#$%^1188#$%^1189#$%^1190#$%^1191#$%^1192#$%^1193#$

产品描述：特点：1采用大规模集成电路作为仪器的主要部分，测量准稳定，低功耗；2以大屏幕LCD显示读数，直观清晰；3采用单个电池供电，带电池欠压指示；4体积≤175mm X...

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型号/规格：ST-213072#$电阻测试仪%^3073#$%^3074#$%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$

产品描述：方块电阻测试仪是一种依照类似的标准和美国A.S.T.M标准，专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的仪器，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金...

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型号/规格：JZ-ST21L型18#$九州空间%^19#$制造商%^141#$全新%^20#$北京

产品描述：JZ-ST21L型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准，专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(...

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型号/规格：JZ-ST21L型18#$九州空间%^19#$制造商%^141#$全新%^20#$北京

产品描述：JZ-ST21L型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准，专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(...

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型号/规格：JZ-ST2018#$九州空间%^19#$制造商%^141#$全新%^20#$北京

产品描述：JZ-ST20掌上型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准，专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜...

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型号/规格：JZ-ST2018#$九州空间%^19#$制造商%^141#$全新%^20#$北京

产品描述：JZ-ST20掌上型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准，专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜...

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型号/规格：FT-393102#$盘羊%^103#$制造商%^139#$全新%^104#$

产品描述：五、 概述： 参照硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、...

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型号/规格：FT-393102#$盘羊%^103#$制造商%^139#$全新%^104#$

产品描述：五、 概述： 参照硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、...

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型号/规格：ST-21

产品描述：ST-21型方块电阻测试仪是四探针方块电阻测试仪中的新一代产品，是一种依照类似标准和美国A.S.T.M标准而设计，专门测量半导体方块电阻(或称薄屋电阻、面电阻，...

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型号/规格：ST-21

产品描述：ST-21型方块电阻测试仪是四探针方块电阻测试仪中的新一代产品，是一种依照类似标准和美国A.S.T.M标准而设计，专门测量半导体方块电阻(或称薄屋电阻、面电阻，...

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型号/规格：M-2型便携数字式四探针电阻率方阻测试仪

产品描述：M-2型数字式四探针测试仪简介一、结构特征 如上图 二、概述 M-2型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量片状、块状半...

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型号/规格：M-2型便携数字式四探针电阻率方阻测试仪

产品描述：M-2型数字式四探针测试仪简介一、结构特征 如上图 二、概述 M-2型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量片状、块状半...

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型号/规格：XY

产品描述：产品品牌：智杰 产品型号：XY ...

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型号/规格：XY

产品描述：产品品牌：智杰 产品型号：XY ...

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产品描述：产品品牌：羲和 薄膜方块电阻测试仪主要用来测量硅外延层、扩...

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产品描述：产品品牌：羲和 薄膜方块电阻测试仪主要用来测量硅外延层、扩...

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型号/规格：-28#$-%^39#$%^127#$%^40#$

产品描述：薄膜方块电阻测试仪主要用来测量硅外延层、扩散层和离子注入层、导电玻璃（ITO）和其它导电薄膜的方块电阻。它由电气测量部份（简称：主机）、测试架、四探针...

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型号/规格：-28#$-%^39#$%^127#$%^40#$

产品描述：薄膜方块电阻测试仪主要用来测量硅外延层、扩散层和离子注入层、导电玻璃（ITO）和其它导电薄膜的方块电阻。它由电气测量部份（简称：主机）、测试架、四探针...

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