型号/规格:ST4080-OSP
产品描述:ST4080-OSP 非接触、非损坏、的OSP镀层厚度测量 操作快捷、简单,无需样品制备工序 直接在线检测实际产品 自动绘制OSP镀层厚度三维...
型号/规格:X-RAY
产品描述:─美国博曼(Bowman)配有功率X射线光管和高灵敏度探测器,能够满足复杂样品和微小测试面积的检测需求。 ─电制冷固态探测器的信/躁比,从而降低检测下限。探...
型号/规格:X-RAY
产品描述:─美国博曼(Bowman)配有功率X射线光管和高灵敏度探测器,能够满足复杂样品和微小测试面积的检测需求。 ─电制冷固态探测器的信/躁比,从而降低检测下限。探...
型号/规格:CHY-C2
产品描述:高薄膜测厚仪,厚度测试仪 CHY-C2测厚仪采用机械式测量方法,适用于塑料薄膜量程范围内各种材料的厚度测量。合GB 6672(塑料薄膜和薄片厚度的测定--机械测量...
型号/规格:AND-001
产品描述:主要用途及特点: 本仪器适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片)、读数直观,使用方便。执行GB/T6672-2001标准。 技...
产品描述:N10702型高薄膜测厚仪技术特征: 微电脑控制、液晶显示 菜单式界面、PVC操作面板 接触式测量 测头自动升降 自动进样 手动、自动双重...
型号/规格:20001IS——726E-004
产品描述:快速测厚仪因其测量范围和测量深度广泛、测头形式多等优点,在生产中得到了广泛应用。 由轻金属合金制作而成的高刚性构架,使操作更为简便并且适应长时间测...
型号/规格:8500
产品描述:德国尼克斯Quanix8500涂层测厚仪(膜厚仪) 德国尼克斯quanix8500型涂层测厚仪一体化设计,探头可以更换。既可以测量钢、铁等铁磁性(fe)金属基体上的非磁性...
型号/规格:BMH-J3
产品描述:一、产品简介: 本薄膜测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片)。本薄膜测厚仪生产参照执行标准GB/T6672-2001。二、...
GB/T 6672 CHY-CA薄膜测厚仪(labthink国际品牌)
型号/规格:CHY-CA
产品描述:GB/T 6672 CHY-CA薄膜测厚仪(labthink国际品牌)适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。了解详情请致电:济南兰...
型号/规格:BMH-J3
产品描述:一、 薄膜测厚仪主要技术指标: 测量厚度范围:(0-25)mm测厚仪分辨率:0.001mm电源:氧化银电池SR44工作温度:0℃~+40℃储运温度:-20~+70℃相对湿...
型号/规格:HZ-1902
产品描述:HZ-1902测厚仪 产品说明:适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片等各种材料的厚度测量。本试验仪主要由控制系统、测量系统、打印输出系统三部分组成。测量系统对...
型号/规格:CMI233
产品描述:规格:测量方法:磁感应:合ASTM B499和B530.DIN50981.ISO2178及BS 5411第三部分的测试方法准确度:相对于标准片+-(2%=0.1um)测量范围:磁感应:0-120mils...
型号/规格:TT240
产品描述:涡流式涂层测厚仪TT240简介:覆层测厚仪TT240|薄膜测厚仪是一种手持式测量仪,它能快速、伤、精密地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度;可广泛用于在制...
产品描述:本公司经营薄膜测厚仪,质量保证,欢迎咨询洽谈。 主要用途及特点: 本仪器适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片)、读数直...
产品描述:本公司经营薄膜测厚仪,质量保证,欢迎咨询洽谈。 主要用途及特点: 本仪器适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片)、读数直...