瑞士TRIMOS公司生产的TR-Scan-P系列精密型非接触表面微观形貌(粗糙度)测量仪，系统采用TRIMOS专利技术数字全息三维显微测量技术(DHM)，广泛应用于高精密微观表面检查。与传统非接触测量技术相比，测量速度快，对震动不敏感，真正的实现三维形貌纳米级测量。模块化的设计理念，可配置共焦显微系统, 探针测量系统，传感器直接更换，方便快捷，极大的满足了不同的应用范围。即可用于计量单位和材料科学研发实验室，也广泛应用在工业制造领域：汽车、航天、航空、表面涂层、医疗产品、微型电机系统、半导体等行业。

主要特点：
◆ 非接触式测量原理，无损化检测粗糙度，微观形貌
◆ 独有的数字全息三维显微技术，真正实现3D微观形貌测量
◆ 创新的成像原理，从原理上保证了对外界振动不敏感，Z轴分辨率高
◆ 激光找正工件并自动定位，测量速度快
◆ 模块化的设计概念，多种光学光路原理，直接更换传感器，不需要调整，方便快捷
◆ 可非标定制相应的测量头，满足不同客户的特殊工件测量要求
◆ 即可选用数字全息技术实现高精密表面测量，也可选用色谱共焦技术实现微观轮廓测量或选用接触式探针实 现内壁粗糙度测量
◆ 惯用了Trimos“智能用户界面”的理念，测量过程全 自动，操作简单
◆ 采用的3D形貌分析软件，功能强大，即可实现2D轮廓测量，也可进行3D形貌分析
◆ 可进行编程批量检测并自动生成分析报告
◆ 完全兼容2D标准，并已内置即将制定的3D标准

软件特点：
TRIMOS NanoWare软件，拥有国际权威的评价标准程序来实时更新国际标准测量符合以下标准：ISO (4287、4288、11562、1101、12085、13563等)，法国标准NF，制造标准CNOMO，ASME (B46.1) 和DIN标准；三维表面特征数据标准ISO 25178系列同样有效。

TRIMOS® NanoWare LT特点：
用于二维轮廓粗糙度测量分析的基本模块。操作简便，包含用于表面检查，分析形貌，粗糙度和波纹度测量的重要功能。
◆ 常用参数要求数据Ra、Rq、Rt、线性材料曲率
◆ 过滤方式、水平、放大
◆ 所有测量可复现三维形貌
TRIMOS® NanoWare STT：
◆ 3轴测量基本模块. 包含分析轮廓的所有功能及 符合ISO 25178表面分析
◆ 3D基本参数(Sa, Sq, St, Smr, ...)
◆ 表面图形仿真
◆ 距离, 高度及角度测量
◆ 成型, 拉平, 视图等滤波器
◆ 最终结果管理
◆ 测量点管理/再采集
◆ 轮廓提取, 体积测量
TRIMOS® NanoWare PRO：
2D及3D表面特征评估最完整版本。此模块综合了表面测量领域15年以来的经验。
◆ 市场上性能的软件
◆ 表面图层研究
◆ 3D形貌鉴定
◆ 表面及轮廓统计分析及研究

应用实例：