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明克斯CH-1-S型薄膜测厚仪
- 价 格：
- 电议
- 型 号：
- CH-1-S型
- 品牌/商标：
- 明克斯
- 企业类型：
- 制造商
- 新旧程度：
- 全新
- 原产地：
- 西安
产品介绍
明克斯CH-1-S型薄膜测厚仪
产品概述：
明克斯CH-1-S型薄膜测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）。
技术参数：
| 型号： | CH-1-S薄膜测厚仪/C H-1-SY压敏胶粘带测厚仪 |
| 技术参数： | 1. 量程：0-1mm 分度值：0.001mm；2. 上测头曲率半径：15-50mm；3. 测头对试样施加负荷我：0.1-0.5N；4. 测量精度：100um以内＜1um、100-250vm＜2um、250um＜3um |
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