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荧光X-reg射线镀层测厚仪
荧光X-reg射线镀层测厚仪

荧光X-reg射线镀层测厚仪

价 格:
电议
型 号:
SEA5100
品牌/商标:
卓研
企业类型:
制造商
原产地:
东莞
产品介绍

荧光X-reg射线镀层测厚仪

  元素分析£镀层测量
SEA5100
采用SiLi)半导体检测器,使之测量分辨率大大提高,弥补了用比例计数管检测时有些元素难以区分的不足,配备有小型准直器,不仅可以进行元素分析,也可测量镀层厚度,与薄膜FP法配合使用时,可以不使用标准样品,就可以进行元素分析及镀层测量。标准配备有Windows2000中文操作界面,采用检量线法和FP法,测量数据与WordExcel链接,自动生成报告和数据处理,2个准直器可自动切换,工作台 3 维电动,可编程进行自动测量。
 

可测元素:

 Na-u

定性功能:

 KLM标示、ROL设定

检 测 器:

 Si(Li)半导体检测器

元素分析:

 自动辨别测量

准 直 器:

 2(自动设定)

应用功能:

 用户自主设定

滤 波 器:

 一次滤波器(自动设定)

自动测量:

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