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产品介绍
荧光X-reg射线镀层测厚仪
元素分析£镀层测量
SEA5100 采用Si(Li)半导体检测器,使之测量分辨率大大提高,弥补了用比例计数管检测时有些元素难以区分的不足,配备有小型准直器,不仅可以进行元素分析,也可测量镀层厚度,与薄膜FP法配合使用时,可以不使用标准样品,就可以进行元素分析及镀层测量。标准配备有Windows2000中文操作界面,采用检量线法和FP法,测量数据与Word和Excel链接,自动生成报告和数据处理,2个准直器可自动切换,工作台 3 维电动,可编程进行自动测量。
可测元素: |
Na-u |
定性功能: |
KLM标示、ROL设定 |
检 测 器: |
Si(Li)半导体检测器 |
元素分析: |
自动辨别测量 |
准 直 器: |
2个(自动设定) |
应用功能: |
用户自主设定 |
滤 波 器: |
一次滤波器(自动设定) |
自动测量: |
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