扫描白光干涉显微仪

产品特点及用途

结合光学显微镜与白光干涉仪功能的扫描式白光干涉显微镜，结合显微物镜与干涉仪、不需要复杂光调整程序，兼顾体积小、纳米分辨率、易学易用等优点，可提供垂直扫描高度达400um的微三维测量，适合各种材料与微组件表面特征和微尺寸检测。应用领域包含：

●     晶体（Wafer）

●     光盘/硬蝶（DVD Disk/Hard Disk）

●     平面电组件（MEMS Components）

●     平面液晶显示器（LCD）

●     高密度线路印刷电路板（HDI PCB）

●     IC封装（IC Package）

以上其它材料分析与组件微表面研究

详细内容请见万濠网页