贵金属纯度分析仪

技术指标：

分析范围：0.3%～99.99%

测量时间：自适应30～100秒

测量精度：±0.1%

测试环境：常温常态

可分析元素：金(Au)，银(Ag)，铂(Pt)，钯(Pd),铜(Cu)，铑(Rh)，钌(Ru)，锌(Zn)，镍(Ni)，镉(Cd)，根据元素能量表可观察以上出各元素的图谱。

X射线源：X射线光管（风冷无辐射）

测量点尺寸：1～2mm

高压器：4～50Kv

分析：多通道模拟

操作系统：Windows2000/XP

电压： 电压：100～127或200～240V，50/60 Hz

尺寸：500mm×450mm×300mm

重量：35kg

软件：菜单式软件，带硬件参数调整和数据评估及计算

硬件特性： 符合最严格的辐射防护标准

样品室：简易的样品放置和耗材更换模式， 配置固定样品用多轴向夹具，长400 mm×宽500mm×高0～90 mm样品放大成像系统。

探测器：固定式半导体封气正比计数器

微处理器控制的探测器和读出电路

镀层测量：

镀层厚度范围<30μm

可测量元素种类：金(Au)，银(Ag)，铂(Pt)，钯(Pd)