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表面粗糙度轮廓圆度仪
表面粗糙度轮廓圆度仪

表面粗糙度轮廓圆度仪

价 格:
电议
型 号:
KOSAKA SEF 580
产品介绍

表面粗糙度轮廓圆度仪

品牌KOSAKA型号KOSAKA SEF 580
测量精度1um/100mm外形尺寸500*D850mm(mm)
重量100(kg) 适用范围纵600um,横100mm。

KOSAKA SEF 580系列表面粗糙度轮廓一体机是小坂研究所(KOSAKA)推出的一款多功能测定粗糙度、轮廓的经济型机型。带有专用的控制器,能进行高精度测量表面粗糙度以及形状轮廓,一机两用,简单操作,显示一目了然。

特点:

在与机型配套使用的众多外设选件的支持下,可实现自动测量。

表面粗糙度真直度0.2um/100mm专用于需要高精度测量的工件。

符合JIS’82/’94/’01,ISO,ANSI,DIN等国际规范。

SEF 580-18D系列的轮廓驱动器配备了超硬测头,10mN-30mN可调节的测定力,Z轴宽/窄范围均能达到极高的精度和分辨率。

全自动停止功能让测量变得更简单。

超大高可见度的TFT-LCD屏幕,彩色图标显示,触控式面板,显示更清晰,操作更简易。

亦可根据需求任意组合,更方便测量。

 

技术参数:

粗糙度测定:

测定参数:多达五十多种,见产品目录。

放大倍率:纵50-200000自动,横1-1000 自动。

测定范围:纵600um,横100mm。

记录项目:测定值,测定条件,日期时间,输入资料(各种文字及图形资料)。

评价长度:0.25,0.8,2.5mm/任意值(0.1mm以上)

λc x1,x2,x3,x4,x5(n:81)。

驱动速度:0.05,0.1,0.2,0.5,1,2 mm/s,高速移動,5,10mm/s及手动。

切断值(cut-off):

粗度:λc 0.08,0.25,0.8,2.5,8 mm。

波纹度:fl 0.8,2.5,8,25mm

滤波方式:高斯(Gauss),2CR,特殊高斯。

自动水平:最小二乘法,二点法,R曲面补正,二次曲线补正。

辅助功能:最自由排列组合记录,记录图刻划,平均处理,统计处理,中途终止,测定再演算,检出器登记,注解记录,自动感度校正,mm/inch单位切换,自动测定,部分处理,图形放大缩小。

纵方向分解能:0.8nm

检出器上下动范围:195mm自动停止机能

自动停止精度±0.2um/100mm。(靴片使用时)

X轴真直度精度:0.2um/100mm。

检出器:触针R2um钻石头,测定力0.7mN。

轮廓测定

解析项目:

排列:原点移动,回转,反转,移动。

要素解析:点,线,圆,山,谷,交点,中点,接点,反转。

刻划量:坐标差,距离,夹角。

测定范围:纵50mm,横100mm。

驱动速度:0.02,0.05,0.1,0.2,0.5,1,2,5mm/s。

资料数:64000点/0.5um。

补助机能:自由排列组合记录,记录图刻划,巨集功能,图形放大缩小,数位圆弧补偿,过负荷防止,跳动上下,正反两方向测定。

检出器上下动作范围:195mm。

真直度精度:1um/100mm。

检出器:R25um,10-30mN,追随角度:爬升77度,下坡87度。

设置质量:W1,500*D850mm  测定装置部约80kg  解析约6kg

电源:单相AC90-240V  50/60HZ  200VA

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