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- 北京恒胜创新电子设备有限公司
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X光机透视仪
- 价 格：
- 电议
- 型 号：
- BJI-G Series
产品介绍
X光机透视仪
| 品牌 | 恒胜创新 | 型号 | BJI-G Series |
| 测量范围 | 40.5*30.5mm | 测量对象 | 芯片、工业元器件、保险丝、热敏电阻、IC卡、热保护器等 |
| 测量精度 | 227Lp/cm | 分辨率 | 1620*1220px |
| 尺寸 | 210*255*270（mm） | 重量 | 2.7（kg） |
恒胜创新BJI-G SeriesX光机透视仪
可用于高清X射线X光无损检测 芯片、电子元器件、电阻、电路等相关电子器件的X光机透视仪。
其他工业无损检测
特点
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业界首创高精度、超高清X光机透视仪
X光机透视仪检测透视每厘米内可分辨出高达227线！
数字化X射线机 配备《恒胜创新工业无损检测X射线机图像处理系统》可对图像进行丰富的处理及打印透视图像。
BJI-G Series对工业电子芯片的高清透视 输出的图像分辨率达到了1620*1220像素。
一块约40毫米长的工业电子芯片经过恒胜创新图像采集系统的处理后 可放大近1000倍。
图像灰度等级达到4600级，可完美清晰检测各类电子元器件及芯片内部状态。
参数
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管电压： | 70KV |
管电流： | 0.4mA (高频) |
成像尺寸： | 40.5*30.5mm |
分辨率 ： | 227p/cm |
传感器： | 1/1.8”CCD |
像元尺寸： |
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