高频差分特性阻抗测试仪

高频差分特性阻抗测试仪产品用途 
     用途：特性阻抗测试系统是采用时域反射技术设计的，能够批量化、自动化、快速、准确测试PCB迹线的特性阻抗，并提供测试波形分析、统计数据分析、自动记录测试数据、自动出具检测报告并打印等功能。适用于电路板制造厂商的研发、设计、生产及品管单位。为高频线路板特性阻抗测试提供了一套快速、准确、标准和经济的解决方案。 


高频差分特性阻抗测试仪产品特点： 
1、批量化、自动化测试，操作简单、测试快捷，适合PCB工厂快速测试。
2、Windows操作环境，友好的人机界面，自动出具测试结果。
3、提供单端和差分阻抗测试。
4、快速定制测试任务及批量化、自动化测试功能。
5、集成测试文件编辑器，快速设置测试参数。
6、自动记录测试数据，生成报表并保存在磁盘上。
7、显示测试波形、统计数据分析及测试结果。
8、打印测试报表、波形及测试结果。
9、符合IPC-TM-650和IPC2141标准。
 
高频差分特性阻抗测试仪技术参数
项目 规格
型号 TDR-ZK2130
控制阻抗测试范围 20～150Ω
测量精度 50Ω±1%
重复精度        50Ω±0.5%
测量长度 0.05～2m
水平显示分辨率 0.2mm
垂直显示分辨率 0.05Ω
测试方法 时域反射法
带宽 3GHZ
数据统计分析功能：SPC功能模块（SPC）