设备名称:

二坐标测量机

设备型号:

sp2010ct(全新)

产地:

AEH

年代:

新

技术状况:

新

数量:

大量

售价:

议

测量范围(mm)X:

200

测量范围(mm)Y:

100

测量范围(mm)Z:

探测系统:

英国RENISHAW系统

分辨率:

0.5μm

示值误差(μm):

1.0+L/100

探测误差(μm):

技术特点：:

稳定的花岗岩底座及立柱，紧凑的十字工作台，精密光栅测量系统，高品质的光学显微镜及CCD图像传感器，可编程控制的光学照明系统，配之以功能强大的影像测量及数据处理软件，使该仪器具有外形尺寸小，整机重量轻，机械系统稳定，安装调试简单，功能强大，操作使用方便，应用领域广泛的优点。