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残余奥氏体含量分析仪
残余奥氏体含量分析仪

残余奥氏体含量分析仪

价 格:
电议
型 号:
ARE X
产品介绍

残余奥氏体含量分析仪

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详细描述:                                                

   

    精确测量残余奥氏体的含量,对于热处理的控制是非常重要的,X射线衍射法(XRD)是可以测量残余奥氏体百分比含量低至0.5%的方法,残余奥氏体的测量遵循国际标准ASTM E975-03规则。

 

X射线衍射法来测量残余奥氏体的百分比含量

    X射线衍射法可以准确测定钢热处理后残余奥氏体的含量,能够为钢铁热处理过程控制提供可靠保证,提高产品质量。

    X射线衍射法是目前为止测量钢体中残余奥氏体含量最准确的方法。根据ASTM E975-03X射线测量钢中残余奥氏体近晶体随机取向的标准方法,ARE X这款仪器能够很轻松检测出钢体中残余奥氏体的含量。

    由于奥氏体相结构与其他相的结构不同,在不同的测试点,奥氏体会产生于铁素体和马氏体不同的衍射峰值。钢中相的总数和与其衍射峰值的强度成正比。简单来说,残余奥氏体总的含量与奥氏体峰值的强度和其他相峰值强度比有关。我们利用X射线衍射仪采集四个衍射峰值来确定残余奥氏体的浓度,两个分别是铁素体和马氏体,两个是奥氏体。通过四个峰值强度的对比可以获得样品中残余奥氏体的百分比含量。

    ARE X衍射仪可以测量奥氏体(220)(311)、铁素体(200)(211)的衍射峰值强度,并分别提供四个奥氏体/铁素体的峰值强度比。通过多衍射峰测量方式能够减少晶体优化取向的带来的影响,同时对检测到的碳化物干扰加以计算。

 

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