X荧光光谱仪EDX660

仪器介绍

EDX660 是天瑞根据多年的贵金属检测技术和经验，以独特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足贵金属的成分检测的需要，人性化的设计，使测试工作更加轻松完成。

性能特点

贵金属检测
内置信噪比增强器，可有效提高仪器信号处理能力25倍以上
智能只能贵金属软件，与仪器相得益彰
任意多个可选择的分析和识别模型
多变量非线性回收程序

技术指标

分析范围 :30%---99.99%
测量时间 :60---300 秒
测量精度 :0.1%---99.99%
测量范围 :Au、Ag、Cu、Zn、Ni、Pd、Rh、Cd、Ru 、Pt
重 量 :30KG
尺 寸 :350*500*400mm
X射线源 :X射线光管。
探测器 :正比计数管
仪 器 配 置：
单样品腔
正比计数器
放大电路
高低压电源
X光管 

应用领域

 黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测
主要用于贵金属加工和首饰加工行业