Ｘ荧光光谱仪Thick800A

性能特点

1、上照式
2、测试组件可升降
3、高精度移动平台
4、小准直器
5、高分辨率探头
6、可视化操作
7、自动定位高度
8、自动寻找光斑
9、鼠标定位测试点
10、良好的射线屏蔽
11、超大样品腔设计
12、测试口安全防护

技术指标

型号：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
一次可同时分析最多24个元素或五层以上镀层。
元素分析检出限可达2ppm，分析含量一般为2ppm到99.9％。
镀层厚度最薄可达0.005um，一般在20um内（不同材料有所不同）。
小孔准直器（最小直径0.1mm），测试光斑在0.2mm以内。
高精度移动平台（定位精度小于0.005mm）。
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多次测量重复性可达0.05um（对少于1um的最外层Au）。
长期工作稳定性为0.1um（对少于1um的最外层Au）。
温度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
仪器尺寸：576 x 495x545 mm
重量：90 kg

标准配置

开放式样品腔。
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机

应用领域

黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。