- 类型：测试卡
- 产品别称：分辨率测试卡
- 探测器分辨率：99%
- 图案布局：T型
- 外尺寸：40 x 30 x 5mm
- 芯片尺寸：5 x 5 x 0.015mm
- 线\/空间尺寸：32种规格图案
- 操作温度：10-70度
X射线分辨率测试卡
JIMA RT RC-04
采用半导体技术，实现了从10 μm到0.1 μm纳米级的23种线和空间。具有纳米焦点和微焦点分辨率的x射线成像系统需要MicroChart来维护和检查其能力和日常校准。
JIMA RT CT-04分辨率测试卡
测试卡封装在一个防护盒中
盒子的外形尺寸（W x D x T）：40 x 30 x 5mm
芯片尺寸（W x D x T）：5 x 5 x 0.015mm
图案布局：T型
线/空间尺寸：32种规格图案
0.1μm, 0.15μm, 0.2μm, 0.25μm, 0.3μm, 0.35μm, 0.4μm, 0.5μm, 0.6μm, 0.7μm, 0.8μm,
0.9μm, 1.0μm, 1.5μm, 2.0μm, 3.0μm, 4.0μm, 5.0μm, 6.0μm, 7.0μm, 8.0μm, 9.0μm, 10.0μm
