采用 IEC60444-5 及 IEC60444-6 国际标准为晶体的测量方法。
? FL 测试提供 “直接阻抗法” 和 “实际负载电容法”。
? 自动扫描、检测不明规格晶体的频率。
? 快速激励电平依赖性(DLD)测试及图形扫描功能。
? 高速、先进的自动寄生扫描(Spurious Scan)测试及图形扫描，直观、便捷分析晶体的谐振特性。
? 提供批量生产模式及工程分析模式，以配合批量生产或工程分析之所需要。
? 标准外延式测试头，使用方便。提供 SMD 测试头（选项）；提供表晶(KHz 范围)专用测试头（选项）(表晶测试 头需配合 KH1820 使用)。
? 快速良品/不良品 (Pass/Fail)分选，可设置 5 个分选档。分选参数及分档范围可由用户分别定义。屏幕上直观显 示测量数据及分档结果。
? 提供 Excel 格式数据存储，可简便进行数据提取及分析。
? 高扩展性(选项)；提供硬件扩展模式及软件扩展模式。用户可简便自行开发高速全自动测量没备。
? 软件内置多语言选择：简体中文、繁体中文、英文及日文可即时切换。
? 提供外接时基 (external time base) 接口。
? 频率范围： KH1800 : 1-120MHz
KH1820 : 10KHz - 400 KHz 及 500KHz - 240MHz
? 激励电平: 1nW - 1mW 于 25 Ohm。
? 测量参数：超过 46 个, Fr, Fs, FL, Rr, Rs, RL, CL, C0, C1, L1, Q, Ts, C0/C1, DF1, DF2, FL1, FL2, DLD-F, DLDR, DLD-γ (γ gamma 为 IEC60444-6 标准参数), spurious scan (寄生) 等等。
? 重复性 : Fs ≤± 时基误差 ±1 ppm
FL ≤± 时基误差 ±1 ppm ± 0.2pF × Ts (晶体的频率牵引量)
Rs ≤± 8% ± 1Ω
? 时基误差 : 出厂校准 ≤ 1 ppm
首年年老化率 ≤ 2 ppm
第二年老化率及之后 ≤ 1 ppm
? 校准方法 : 标准网络分析仪校准模式 (开路、短路及负载)，随系统提供 50 Ohm 标准电阻
需要用户提供 PC 电脑及 Windows XP/Windows 7/ Win10 (32/64 Bits) 操作系统。为优化性能, 建议配置 Intel Core 2 Duo E4500 2.2GHz (或更高阶)，1GB 内存，USB 埠 1 个，PCI 槽 1 个(配长卡及需含 3.3V 和 5V 电源)。
