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X射线温高精粉末衍射仪
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X射线温高精粉末衍射仪

产品价格:
电议
产品型号:
Capillary Heater Device 670.3
产品品牌:
XHUBER
供应商等级:
企业未认证
经营模式:
代理商
企业名称:
北京培科创新技术有限公司
所属地区:
北京市
发布时间:
2019/4/30 14:45:19

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曹青山先生(联系我时,请说明是在维库仪器仪表网看到的,谢谢)

企业档案

北京培科创新技术有限公司

企业未认证营业执照已上传

经营模式:代理商

所在地:北京市

主营产品:X射线衍射仪,扫描电子显微镜

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系统简介

X射线衍射仪可在大气中分析样品,进行物质的定性分析、晶格常数确定和应力测定等。并且,可通过峰面积计算进行定量分析。可通过半高宽、峰形等进行粒径/结晶度/精密X射线结构解析等各种分析。


北京培科技术有限公司作为大陆区总代理,现推出德国HUBER快速X射线粉末衍射仪,高的机械加工,大限度地丰富了X射线衍射仪的使用场景,扩大了使用范围,该系统可分别实现“微量、高压、高温、温、单晶测量”等要求。


Guinier-X射线清快速粉末衍射仪运用成像板技术,通过成熟的工艺技术,配合温度调节配件,可对高至1772℃的粉末样品进行X射线衍射测量。


本文将详细介绍以Guinier Camera G670及高温组件为构造的X射线温高清粉末衍射仪。

结构

img1

Guinier Camera G670

Huber G670次以Guinier几何结构,提供了一种现代图像板检测方法(image plate)。

在许多Guinier相机中,有着100多年历史的湿法影印技术已被逐步计数闪烁探测器和比例探测器所取代。

虽然这使采集数字数据成为可能,但不能显著减少测量时间,测量时间依旧保持在几小时到几天的范围内。

与此不同的是,使用Huber的图像板检测方法,可以在几分钟内获得所需的数据。

与传统的Guinier相机相似之处是,它的几何结构和高分辨率——Huber G670已然是一款成熟的衍射仪。


的成像板技术

由聚酯制成的柔性安装箔上涂有由晶体组成的均匀粉末的发光存储材料(颗粒大小约0.005mm),即由氟化钡和微量二价铕组成的光刺激荧光粉作为发光中心(BaFBr:Eu2+)。

图像存储箔片位于Guinier相机670中,敏感面向内,准确地对准在半径为90mm的焦圆上。它的曝光方式与以前使用的湿法影印技术相同。之后,在约5秒的时间内,用垂直的线性红色二管产生的激光束扫描成像板。

img2

由此产生的蓝色光激励发光(PSL)从受X射线照射的区域发出,在扫描过程中由光电管放大,然后记录。初始的模拟信号通过一个16位的A /D转换器转换成数字计数。

通过白色卤素灯,可以在10秒内擦除已储存的图像结构,并支持下成像。

除图像存储箔外,670相机的外壳还包括带有光电管和前置放大器的激光记录单元,以及卤素擦除灯。

这款小巧的Guinier粉末衍射仪集成了传统的湿法影印技术的高分辨率,及图像板检测技术的高灵敏度。因此,它能够在尽可能短的时间内提供数字粉末衍射图,然后可以通过Rietveld分析或类似的方法进一步处理。

所提供的测量软件在MS-Windows下运行,并将多可达20001个计数点的衍射图文件存储成各类标准文件格式。


高温组件

img3

Capillary Heater Device 670.3

这种U型陶瓷加热叉可以将样品加热到900℃,加热炉和毛细管试样架被一个圆柱形的盖普敦箔片保护起来,空气渗入。

传热过程是“黑体”或“灰体”辐射,而非直接接触或气体对流传热。在这一过程中,温度是由位于旋转毛细管试样架上方的Pt-10Rh-Pt热敏元件测量的。



Diode Laser Furnace 670.31

img4

该加热器由一个连续的二管激光器(30W)供电。它由的圆柱透镜,以毛细管试样架为焦点发射近红外波段的窄带光。

它的线焦点是0.3 x 10mm的横断面,可适配毛细管试样架中心。 样品粉末与Pt粉末按约1:1的比例混合。然后毛细管试样架。

需要Pt粉的两个原因:

1. 它吸收红外激光辐射,从而加热、并将热能传递给周围的样品晶体。

2. 铂粒子的立方晶格各向同性膨胀,使它的X射线衍射线向更小的温度相关的布拉格衍射角偏转。


img5

Controller Unit for 670.31


由于对应的函数已知,从铂峰的位置即可确定样品的温度,±30K。由于石英质地的毛细管试样架在1500℃左右开始失去刚性,它们只能在此温度下短期使用。 用陶瓷毛细管可以更高的温度,上限为1772℃(铂的熔点)。

二管激光炉670.31具有RS232接口的可调电源和闭环水冷却系统。激光器的输出和温度是由激光二管的电源控制的。水冷却系统配备了一个冷却压缩机以及相应的措施。也可选择使用商用高温计进行温度测量。

多种多样的试样架

img6

Plane Sample Holder 670.1

平板粉末试样架670.1是在正常实验室条件下测定粉末试样的标配。 在高光强下,它可以产生精细的理想峰。

将粉末固定在一个尺寸为10 x 20mm,6μm厚的聚酯箔上。X射线以45°的角度不对称地穿透样品表面,同时样品在其平面内以约1Hz的振幅振荡,振幅为10mm。此法消除了由不同晶向的粉末颗粒引起的强度变化。

img7

Sample Changer 670.120

标准平板粉末试样架670.1可换为多通道粉末样品试样架。配合非对称的X射线,可装载6份不同样品。同时配备另位器,方便客户测样的同时进行制样工作。经过步进电机的驱动,将样品移动到测量位置,并在该位置附近提供连续的振荡,类似于单样品试样架,运行频率约为1Hz。

多样品可反复拆卸且操作简单,位置偏差不过0.01mm,因此化了由于样品位置不同带来的误差。电子硬件系统适配G670控制系统,定位动作均由标准的G670程序控制。

样品装填工具

Capillary Boy 670.21

img8

填充毛细管试样架曾经是一项费时费力的工作。有了Capillary Boy,将十分方便。

将毛细管试样架安装在振荡器上,震动使粉末轻轻落下。转动一个旋钮,您就可以调节振荡器的频率,以配合每一个微管样品槽/粉末组合的需要。这将使平均制样时间减少到1-2分钟,具体情况视粉末而定。

轻松装样

降低样品槽损坏率 ※减少每次分析的成本

每装样可节省15分钟

基底调整仪

img9

Adjustment Base 601

对于除670.6外的相机配置,都需要基准调整装置601。

它包括用于调整相机位置的工具和Guinier单色仪61 1。

根据X射线的辐射波长,可用不同的晶体615/616,见单独的产品册。由于空间原因,激光加热炉670.31和低温器件670.4,需要使用616系列晶体。

单色镜

img10

Monochromator 611

Gunier单色器611有一个用于聚焦Johansson-Guinier型单色器晶体的底座。安装在U形金属框架内,因此可以很容易地和更换。

多功能外壳具有高定位自由度,这对微调在X射线管光束路径上的晶体。

为了准确限制x射线束的横截面,设计了多种孔径。

单色仪主要用于细聚焦X射线管( 0,4x8mm)的线路侧,滤除Kα2 。



img11

Monochromator Crystals 615/616




Guinier 晶体单色器615/616参数


Huber#Anode Kα1【A】 Cryst.hkl2θ【°】

615002

Cu

1.54060

Ge

111

13.640

615004

Cr

2.28962

Ge

111

20.517

615006

Fe

1.93597

Ge

111

17.238

615008

Co

1.78892

Ge

111

15.893

615010

Mo

0.70926

Ge

220

10.212

615012

Ag

0.55936

Ge

220

8.038

615002

Cu

1.54060

Ge

111

13.640

615004

Cr

2.28962

Ge

111

20.517

615006

Fe

1.93597

Ge

111

17.238

615008

Co

1.79892

Ge

111

15.893

615010

Mo

0.70926

Ge

220

10.212

615012

Ag

0.55936

Ge

220

8.038


附件

img12

Further available components

单色镜

平面试样旋转装置

X射线发生器

闭式循环冷水机

带电源的X射线盒

适配670.31 CCD 的商用高温计

适配670.2/5的目镜照相机



G670主要参数

img13

G670的主要技术参数:

计数点(max.):20001

2-Theta范围 (max.) :100°

2-Theta 步长:0.005°

A/D 分辨率:16 Bit

动态范围(multi-scan):~200000 counts

读出时间:<5 sec

擦除时间:10 sec

焦圆半径:90 mm.


硬件要求

X射线光源:0.4*8 mm2垂直细线焦点

台面以上横梁高度:~275mm

桌面面积:~600*500mm2

19”机架,3个高度单位

img14

结语

该系统以Guinier高分辨率相机与高温组件为主要,通过在此基础上搭建的系统,以响应客户对高温条件下粉末试样进行高测量的需求。



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