系统简介
X射线衍射仪可在大气中分析样品，进行物质的定性分析、晶格常数确定和应力测定等。并且，可通过峰面积计算进行定量分析。可通过半高宽、峰形等进行粒径/结晶度/精密Ｘ射线结构解析等各种分析。
北京培科技术有限公司作为大陆区总代理，现推出德国HUBER快速X射线粉末衍射仪，高的机械加工，大限度地丰富了X射线衍射仪的使用场景，扩大了使用范围，该系统可分别实现“微量、高压、高温、温、单晶测量”等要求。
LaueX射线高精单晶衍射仪是传统台式X射线粉末衍射仪的优化版，通过成熟的工艺技术，配合Laue Camera 801/802，可实现对单晶的高测量。
结构
? Laue Camera 801/802
劳厄法是X射线分析单晶的经典方法。用一个相对简单的过程，就可以获得关于晶体对称性和取向的详细信息。
HUBER制造的Laue相机可以在光束传输和返回两种模式下工作。两个薄膜盒可以沿着楔形导轨定位，中心安装用于晶体样品精细定位标准测角头。
Model 801 可以通过适配器800直接安装到管屏蔽窗,使水平和垂直管方向均可启用。Model 802在实验台上有一个安装的稳定底座。
技术参数：
楔形导轨[mm]: 200
角度计旋转范围[°]: 360
轴向调整范围 [mm]: ≤14
测角仪头部尺寸[mm]: 56-70
准直器内径[mm]: 0.5 / 0.8
薄膜/孔径 直径 [mm]: 115 / 8
梁高度802 [mm]: 275 +/- 10
重量 801/802 [kg]: 3 / 5
配件一览表
序列号 | 产品名 | 功能 |
800 | Camera mount | 照像机架 |
801.011 | Film cutter | 裁片刀 |
801.012 | Polaroid Land Cette adaptor | 适配器 |
801.013 | Adjustment microscope | 显微调整仪 |
801.014 | Attachment | |
801.015 | Stretching device | |
801.016 | Specimen rotating drive | 样品旋转装置 |
806.011 | Drive motor 24V/AC | 驱动马达 |
801.011 Drive motor 24V/AC
801.012 Polaroid Land Cette adaptor
801.014 Attachment
801.015 Stretching device
801.016 Specimen rotating drive
?单色镜
Monochromator 611
Gunier单色器611有一个用于聚焦Johansson-Guinier型单色器晶体的底座。安装在U形金属框架内，因此可以很容易地和更换。
多功能外壳具有高定位自由度，这对微调在X射线管光束路径上的晶体。
为了准确限制x射线束的横截面，设计了多种孔径。
单色仪主要用于细聚焦X射线管( 0,4x8mm)的线路侧，滤除Kα2 。
Monochromator Crystals 615/616
Guinier 晶体单色器615/616参数
Huber#Anode Kα1【A】 Cryst.hkl2θ【°】
615002 | Cu | 1.54060 | Ge | 111 | 13.640 |
615004 | Cr | 2.28962 | Ge | 111 | 20.517 |
615006 | Fe | 1.93597 | Ge | 111 | 17.238 |
615008 | Co | 1.78892 | Ge | 111 | 15.893 |
615010 | Mo | 0.70926 | Ge | 220 | 10.212 |
615012 | Ag | 0.55936 | Ge | 220 | 8.038 |
615002 | Cu | 1.54060 | Ge | 111 | 13.640 |
615004 | Cr | 2.28962 | Ge | 111 | 20.517 |
615006 | Fe | 1.93597 | Ge | 111 | 17.238 |
615008 | Co | 1.79892 | Ge | 111 | 15.893 |
615010 | Mo | 0.70926 | Ge | 220 | 10.212 |
615012 | Ag | 0.55936 | Ge | 220 | 8.038 |
?附件
Further available components
单色镜
平面试样旋转装置
X射线发生器
闭式循环冷水机
带电源的X射线盒
适配670.31 CCD 的商用高温计
适配670.2/5的目镜照相机
结语
该系统以Laue高分辨率相机为主要组件，通过在此基础上搭建的系统，以响应客户对单晶样品测量的需求。
