阻测量和耗散
QCM-I石英晶体微天平是一种高灵敏度质量传感器，可测量石英晶体谐振器和任何吸附膜的频率和耗散变化。 QCM可应用于很多方面—生物传感器，化学传感器，腐蚀，聚合物薄膜，纳米颗粒薄膜等。频率和耗散的变化提供了与薄膜质量或弹性变化有关的信息。
QCM-I由匈牙利布达佩斯的MicroVacuum Ltd.制造。 MicroVacuum将基于U的恒电位仪的控制集成到他们的BioSense软件（V3或更高版本）中。
测量原理是基于石英晶体的阻分析。 确定谐振频率和谐振电导曲线的带宽。 半带宽或全宽，半带宽（FWHM）与质量因子（Q）直接相关，质量因子（Q）定义为耗散的倒数（D）。
QCM-I特点：
测量谐振的频率和质量（半带宽或带宽或耗散）
可以快速连续地测量不同的谐波（在5MHz晶体上达13次谐波）
包括4°C至80°C（±0.02°C）的温度控制
EC测量模块可选配ITO-QCM传感器
模块化传感器支架，多4个测量通道
带有Windows?10的外置PC; 通过U与QCM-I连接
该软件可控制QCM-I仪器。 有两种测量模式：
共振：共振曲线的测量和共振频率的计算以及70 MHz的FWHM
QCM-t：连续测量共振参数和流动池的温度。
计算：可以使用标准或定制模型计算各种QCM和广告层参数。 这些参数都可以显示在屏幕上，打印，保存或导出以供进一步评估。
包含项目：
QCM单元有两个温控通道
PC计算机INTEL NUC与Windows?10Pro
QCM传感器支架（流通型）2个
生物传感的3.xx软件（一个用户许可证）
采用半自动进样阀的进样系统
