Microsemi 5120A相位噪声阿伦方差测试仪
相噪和阿伦方差的测量从来是容易且的。传统的测量工具需要一个外部的锁相环，这样就使得测量手段相对复杂和昂贵化。5120A您轻点一下按钮，就可以提供快速的相噪和阿伦方差测量值，从而大大的了方案的简便性和性价比。
Microsemi（原Symmetricom）公司制造的5120A是目前容易使用的相噪和阿伦方差测试工具：将被测源和参考源连接在5120A上并点击“开始”按钮，几秒钟后的测量数据就会出现在设备自带的高分辨率显示屏上。另外，您不需要进行乏味的多步骤设置和校准。
5120A是从Symmetricom之前的相噪和阿伦方差测试领域的产业标准5110A发展而来，除了拥有标准的测量性能外，新一代5115A提供的相噪值测量结果几乎了一个限的（±1.0 dB）。
Microsemi（原Symmetricom）的相噪和阿伦方差测量设备的制作工艺近年来有着的发展，并成功地将之前该领域的多次测量方法转变成简单的一体决方案。这使得5120A在节省成本的前提下得出更为精准的测量结果。
为进一步方便使用，Symmetricom公司替5120A增加了一个内部振荡器的选项，即5120A-01，这就省去了您再单独采购和标定一个外部参考源的成本。拥有5120A-01，您要接入被测源与设备自带的参考源做比对，就可以得出精准的测量值。
Microsemi 5120A相位噪声阿伦方差测试仪 是相噪和阿伦方差测量领域的一个思维模式的转变。拥有5115A，过去在研发和生产中昂贵复杂的测量方案将变得更简洁，更快速，更精准而且。
全数字一体化测试设备的好处：5120A将复杂的时频工艺融合成一个简单包含Symmetricom算法的测量仪。在上面的5115A框架图上，正要通过5115A的被测设备和参考源立刻就会转变成各自的数字形态。这使得5115A无需外部的锁相环和其他的校准机制。此外，5115A不需要参考源的频率同被测设备一样。
互相关技术的好处：从上方的框架图可以看出，5120A采用了的互相关技术。在取得同时观察值得同时，5120A交叉关联了两个通道的离散傅里叶变换，一方面用来估算输入设备的噪声，另一方面去掉了两个测量子系统本身的噪声。这就使得终的测量结果比一般的单通道设备精准的多。
Microsemi 5120A相位噪声阿伦方差测试仪电气指标
输入频率范围：1 - 30 MHz （正弦波）
阿伦方差：≤ 3E-15 每秒 （0.5 Hz带宽）
相噪指标：
量测：± 1.0 dB
偏移频率范围：0.1 mHz - 1 MHz
系统噪声基底 （10 MHz输入）：
偏移 相噪
1 Hz -145 dBc/Hz
10 Hz -155 dBc/Hz
100 Hz -165 dBc/Hz
≥10 kHz -175 dBc/Hz
系统噪声基底 （10 MHz输入，使用内部参考源）：
1 Hz -120 dBc/Hz
≥10 Hz -168 dBc/Hz
Microsemi 5120A相位噪声阿伦方差测试仪技术指标：
输入信号强度：3 - 17 dBm
输入阻：50 Ω
输入接口：TNC（配置两个BNC适配器）
环境规格
尺寸：34 cm x 17 cm x 44 cm (13" x 7" x17")
功率：47 - 63 Hz，60 W（Max）
工作温度：15°C - 40°C
存储温度：-25°C - 55°C
整机重量：9 kg
外包装重量：12 kg
前面板
显示：高分辨率 640x480 LCD
按钮：6个热键，开始，结束，打印，电源
TNC接口：2个
后面板
U接口：2个，支持鼠标，键盘，打印机
网口：RJ-45 10/100BaseT 以太网
选项
机架式盘工具包
可升级到5120A-01（带内部参考源）
产品清单
5120A相噪测试仪，2个TNC-BNC转接头，操作手册（含光盘），电源线，一年质保
