提供的图像质量和稳固的机械结构；
操作简便，附件，广泛应用于教学科研金相分析、
半导体硅晶片检测、地址矿物分析、精密工程测量等领域
■ 光学系统：无限远色差校正光学系统（CSIS），像质更好，分辨率更高，观察更舒适。
■ 目镜及物镜：高眼点、宽视野平场目镜，PL10x/22mm，提供更加宽阔平坦的观察空间并可加装用于测量的各类测微尺，无限远平场消色差长工作距金相物镜，无盖玻片设计。
■ 观察筒：铰链式双目/三目/数码一体化观察筒，视度可调节，30°倾斜，可进行摄影摄像，对观察图像进行采集和保存，配置电脑和软件实现图像分析。
■ 调焦机构：低手位粗微调同轴调焦机构，粗调行程28mm，微调0.002mm，带有平台位置上下调节机构，样品高度可达50mm（反射）、30mm（透反射），带有粗调松紧调节装置和随机限位装置。
■ 照明系统：反射照明器带斜照明装置，可以再观察细微组织结构时产生浮雕立体的观察效果，自适应90V-240V宽电压，单颗3WLED高亮度冷光源。技术规格
光学系统 | 无限远色差校正光学系统 |
观察筒 | 铰链式双目头，30°倾斜，可360o旋转，瞳距调节范围：54-75mm，单边视度调节±5 |
铰链式三目头，分光比：双目100%，双目:三目=50%:50% | |
目镜 | 高眼点大视野平场目镜PL10X22mm |
高眼点大视野平场目镜PL15X/16mm | |
物镜 | 无限远长工作距平场消色差金相物镜： PL40X/0.6 /WD3.7mm |
转换器 | 5孔内倾式转换器 |
调焦机构 | 反射式机架,低手位粗微同轴调焦机构。粗调行程28mm,带平台位置上下调节机构,样品高度50mm,微调0.002mm.带有下滑的调节松紧装置和随机上限位装置 |
透反两用机架,低手位粗微同轴调焦机构。粗调行程28mm,带平台位置上下调节机构,样品高度30mm,微调0.002mm.带有下滑的调节松紧装置和随机上限位装置.带12V 50W光照明系统.上下光可控制. | |
载物台 | 175×145mm双层复合机械平台,可拆卸;平台经过工艺处理,腐.，移动范围76mmX50mm，配反射用金属载物台板 |
175×145mm双层复合机械平台,可拆卸;平台经过工艺处理,腐.，移动范围76mmX50mm，配透、反两用玻璃载物台板 | |
反射照明系统 | 反射照明器,柯拉照明系统,带视场光阑与孔径光阑,中心可调;带斜照明装置，自适应90V-240V宽电压输入，单颗大功率3W LED，预定中心，亮度连续可调 |
照明系统 | 90-240V宽电压,6V20W卤素灯箱,灯丝中心可调，摇出式消色差聚光镜(N.A 0.7) |
偏光装置 | 起偏镜 |
固定式检偏镜/可360度旋转式检偏镜 | |
滤 | 反射用干涉滤光片：蓝色≤480/绿色520-570/红色630-750/色平衡片(白光) |
用：黄/绿/蓝/中性 | |
摄影装置 | 摄影接筒 |
摄像装置 | 1.0X C型摄像接筒 |
