CHERSCOPE® XDL® X射线荧光光谱仪
XDL镀层厚度测量仪特点
- 坚固耐用的镀层厚度测量设备，甚至可在较大的距离测量（DCM功能，范围0-80 mm）工作
- 固定光圈和固定滤光镜
- 用于1mm起大小的测量点
- 底部C型开槽的大容量测量舱
- 可编程的台式设备，用于自动测量
- 标准X射线管，比例计数器
XDL镀层厚度测量仪典型应用领域
- 测量大规模生产的电镀件
- 腐镀层和装饰性镀层，如镍/铜上的铬。铬层测厚、铜厚测量
- 电镀工业中电镀液的分析
- 黄金、珠宝和钟表工业
X射线荧光测试仪，可手动或全自动测量功能性镀层(包括铬层测厚、铜厚测量)、腐蚀镀层和大规模生产部件
