一、X-TECH荧光光谱仪的特点
1、镭射对焦系统
2、CCD高彩色摄像头
3、FP算法，简化校正过程
4、测量直径小可0.1mm，可供选择的准直器0.1mm,0.2mm,0.3mm,矩形等多种规格
5、多种滤波器灵活应用
6、可同时测量多种镀层，多4层
7、镀液分析
8、多种样品台可选
9、操作简单测量准确
二、测量软件
搭配WINDOWS XP操作系统
测量数据统计分析方便
可自定义模板
三、基本参数配置
TXD100系列
正比计数探测器
1、高计数率，良好度，可测量微小样品。
2、合金成份常量分析
3、的性价比
1、镭射对焦系统
2、CCD高彩色摄像头
3、FP算法，简化校正过程
4、测量直径小可0.1mm，可供选择的准直器0.1mm,0.2mm,0.3mm,矩形等多种规格
5、多种滤波器灵活应用
6、可同时测量多种镀层，多4层
7、镀液分析
8、多种样品台可选
9、操作简单测量准确
二、测量软件
搭配WINDOWS XP操作系统
测量数据统计分析方便
可自定义模板
三、基本参数配置
TXD100系列
正比计数探测器
1、高计数率，良好度，可测量微小样品。
2、合金成份常量分析
3、的性价比
