技术参数

波长范围:120 – 800nm。
 
实际光学分辨率(实测谱线半峰宽):≤0.010nm (160-430nm), ≤0.018nm (430-800nm)。

光学系统: 恒温设计, 0.64米焦距, 采用背对背双面4343/2400 刻线/毫米 离子刻蚀全息闪耀光栅, 低的散射光 (1×10-7), 使用光光谱分析。 

检测器:  2048X512像素, 背照式CCD检测器, 像素尺寸13.5x13.5 μm, -30℃下工作，在工作温度下(-30℃) 无须吹扫高纯度保护气流, 满阱容量100,000个电子, 1MHz频率, 低读出噪声6 e- r.m.s., 暗电流小于0.025电子/象素/秒。

等离子体观测方式:  侧向(径向)关测, 炬管垂直放置。 

发生器: 固态式发生器, 频率为40.68MHz, 频率波动 ±1KHz, 功率 750W – 1550W, 功率波动 ±0.1%。 

炬管:  3mm 大口径内管, 采用可拆卸式外/中/内炬管设计。 

进样系统:  恒温, 旋流雾室配备玻璃雾化器 (标准配置), 可以直接进样30% 的高盐溶液。

全谱系统:  可以采集光谱信息，进行定性、半定量和定量分析, 并可作回溯性分析。 

气体消耗量: 低的总气体消耗(氩气)量 ≤14L/分钟。 

短期稳定性: 连续测量11次，RSD≤1%。 

长期稳定性:  每10分钟测量，连续测量4小时，RSD≤2%。

主要特点

        新型全自动Aiva-M电感耦合等离子体原子发射光谱仪, 采用专为科研性光谱学而设计的传感器, 为一噪声CCD固态检测器ICP光谱仪, 涵盖宽广的光谱分析范围 (120 – 800nm), 适合于各类型分析应用; 并包括Cl, Br, I 等真空紫外元素波长的分析, 对正常波长范围内 (160 – 800nm) 的元素光谱干扰问题提供了一个波段免除光谱干扰的可能性。 

        高分辨率模式在120-430nm光区的光谱分辨率<10pm。 模式在120-800nm光区的光谱分辨率<18pm。 

        检测器具强大溢出功能, 好的实际动态范围，达107，至5个数量级的线性响应范围。采用AIMO (Advanced Inverted Mode Operation), 低暗电流，具有大的阱容量 (象素电荷储存量)。
采用高技术电子线路，内含Rapid ChipTM组件。 

        采用好的垂直炬管径向观测与高亮度，光学系统相结合，可以径向观测等离子体的整个正常分析区（不同类型的样品分析不受限制）。 

        等离子体室空间大，炬管、雾室装置为卡式结构、拆卸、安装便捷，无需任何调节。宽阔的样品导入区，具有便利可向下折叠的腐蚀样品托盘。 

         Smart Hood（智能化排风装置）等离子体区的排风、方便，并降低了安装成本。 

          的S³-base (Single-element Spera, Speroscopic data) ICP谱线数据库有助于在120-800nm范围内选用ICP谱线。 

          完整的全自动多谱线及性分析概念, 使用大的多谱线分析工具 IMAGE (full sperum acquisition tool) & MASTER (Multi-line Analysis, Seleion Tool for Enhanced Reliability) 加上统计学上的分析工具CALSTAT & SOS (Statistical Outlier Survey), 了后分析结果的性。 

         大的AIVAnalyst 软件扩展了以CCD为检测器的AnalystTM ICP 软件的功能, 具备多种选购件及供仪器升级用的部件。
         本系统可于一个光谱视窗内同时测量多波长及其背景，提供多元素的率分析。将相邻的光谱视窗加合起来，系统即可覆盖100% 的光谱范围。

仪器介绍

         AIVA–M 是基于“A platform for the future TM”（未来平台）设计理念，使用率背照式 CCD 为检测器的 ICP–A 光谱仪。它保留了 HORIBA Jobin Yvon 光谱仪的一贯优势，又引入了的 CCD（电荷耦合元件）技术，从而了仪器的质量和灵。

         AIVA–M 对 ICP 分析工作者提供了一个不同的 ICP 分析概念, 不同于时下的其他 CCD ICP, 多谱线分析需由人为判断是否有光谱干扰及终人为选择谱线及确认分析结果, AIVA-M 提供了一个全自动化对谱线选择及光谱干扰的判断, 加上完整统计上的校正曲线自动判断, 了后分析结果的性. 本机使用过 50,000 条 HJY 专属的ICP 谱线资料库 (S3-base, Single element Spera, Speroscopic data) 为分析谱线基准, 利用专属的 IMAGE 全谱定性半定量系统, 无需任何标准溶液, 对未知样品进行快速半定量分析, 获得各元素的浓度范围。将基体元素浓度及欲分析元素浓度输入至 MASTER 软件后, 不需进行任何上机分析或 sperum profiling, 即可快速由软件多谱线视窗中看到谱线之光谱干扰及可采用的元素分析谱线, 并自动汇出建立完整的全定量分析方法。 经此全定量方法, 建立校正曲线, 并经由 CALSTAT 对此工作曲线进行统计学上的自动判断, 以曲线的合理性并开始进行样品分析。 然后经由 SOS (Statistical Outlier Survey) 自动对多谱线分析结果进行筛选, 以后分析结果的性。 

         由于AIVA-M 拥有宽广的光谱范围及优异的恒定光学分辨率, 加上的“完整”多谱线分析观念, 使本机适合研发及质管上各样品种类的分析利器。