- 仪器简介：
- 微区X射线荧光光谱分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非破坏性的元素分析的方法。采用多导毛细管聚焦镜将激发光聚焦到小的区域，以获得的空间分辨率，进行快速分析。任何类型的样品都可以通过简单的样品制备甚至不制备直接进行分析。
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技术参数： -
技术参数
样品类型 固体、颗粒、液体、多层膜
样品室尺寸 W×D×H：600×350×260mm
样品台尺寸 W×D：330×170mm
测量气氛 大气/真空，在100秒内准备就绪
样品移动 移动范围 W×D×H：270×240×120mm
移动速度 涡轮增速样品台移动速度可达100mm/s
激发 配多导毛细管聚焦镜的度X射线光管
选项：可同时使用不同靶材的双光管
X射线光管参数
靶材 Rh，可选靶材：Mo，Ag，Cu，W
电压 50kV,800μA
光斑大小 小于30μm（对于Mo-K）
滤光片 根据用户要求，多6块滤光片
探测器 XFlash®硅漂移探测器
选项：可多同时使用3个探测器
探测器参数
面积 10mm2，选项：30mm2
能量分辨率 计数率250,000cps时分别125eV、135eV
仪器控制 的PC机，Windows XP或Vista操作系统
仪器控制功能 光管参数、滤光片、光学显微镜、样品照明和样品定位的控制
光谱评估 谱峰识别、人工和自动背景校正、峰面积计算、对于块状样品和多层膜样品基于标样和无标样模式的定量分析
分布分析 “飞行中”测量模式，HerMap软件功能
结果显示 定量结果、统计计算、元素分布（线扫描、面分布）
电源要求 110-240V（1P），50/60Hz
尺寸（宽×深×高） 815×680×580mm，130kg
质量和 DIN EN ISO 9001:2000, CE
辐射护系统；辐射剂量＜1μSv/h -
主要特点： - M4 TORNADO采用了的技术，为各种用户提供了的分析性能和方便的操控性。
- 采用多导毛细管聚焦镜，照射光斑小，空间分辨率。
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涡轮增速X-Y-Z样品台，借助放大倍数可变的摄像系统获得的样品影像，可在“飞行中”进行元素分布分析。
度的X射线光管与多导毛细管聚焦镜相结合，在小的照射区域内获得高的激发强度。采用滤光片和可以同时使用的配有不同靶材的双光管，可以根据不同的分析要求，优化激发光谱。 - 使用XFlash®探测器速地获取样品图谱，另外，使用多个探测器可以进一步测量速度。
- 采用无标样分析法定量分析块状样品，分析多层膜样品。
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