MJLD型吸收率测量装置
产品介绍
MJLD型吸收率测量装置，主要用于测量材料的太阳吸收率。配有计算机和工作软件，实现自动测量的测量设备。本装置是由国航天科技企业和航天研究员联合研制。是航天系统测量的智慧结晶。本设备是国内，填补国内测量材料太阳吸收比仪器的空白，同时在测量方法上有进一步的。
主要用途
测量材料表面的吸收特性。
技术指标
吸收率
◆测量范围：0.02～0.99
◆工作温度范围：-30～80℃
◆测量不确定度：当αs＞0.8 为±2.0％；当εn＜0.2 为±4％；其余为2.5％
◆积分球直径：Φ150
◆光源高色温：220V300W
◆探测器：真空平面热电堆
◆工作波长：0.3 5～2.5μm
产品介绍
MJLD型吸收率测量装置，主要用于测量材料的太阳吸收率。配有计算机和工作软件，实现自动测量的测量设备。本装置是由国航天科技企业和航天研究员联合研制。是航天系统测量的智慧结晶。本设备是国内，填补国内测量材料太阳吸收比仪器的空白，同时在测量方法上有进一步的。
主要用途
测量材料表面的吸收特性。
技术指标
吸收率
◆测量范围：0.02～0.99
◆工作温度范围：-30～80℃
◆测量不确定度：当αs＞0.8 为±2.0％；当εn＜0.2 为±4％；其余为2.5％
◆积分球直径：Φ150
◆光源高色温：220V300W
◆探测器：真空平面热电堆
◆工作波长：0.3 5～2.5μm
