Panametrics MG2系列
Panametrics® MG2系列是一些小巧、经济的声测厚仪，其主要用户为负责测量有内部腐蚀的管道、箱罐容器和其它金属构件的剩余厚度的检测人员和维护工程师。这些测厚仪具有轻便且合人体工程学的单手操作设计，为许多需要对疑为金属壁变薄的材料所进行的快速检测应用，提供
了性价比高的测量解决方案。
Olympus是世界的型、高质量声检测仪器的生产商。我们认为我们的客户应该享用真正具有质量好、高、操作简便且价位适中的测厚仪。我们生产的3款坚固耐用的测厚仪可满足客户的期望：Panametrics®MG2型仪器、Panametrics® MG2-XT
型仪器，以及Panametrics® MG2-DL型仪器。每款仪器都具有许多实用的测量功能，可解决在厚度测量过程中出现的各种各样的问题。
特色
- 从工件的一侧测量：声测厚仪从材料的一侧发射声
波，无需切开材料被腐蚀的部分，即可进行数字化测量。 - 袖珍轻便：这些手持式测厚仪小巧轻便，可被放置于工具箱或口袋中。它们是快速测量材料中难于接触到的区域的理想的测厚仪。
- 直观的彩色键盘：操作简易省时，可以直接访问许多重要的测量功能。按键根据不同的功能被分组、标色，便于用户对按键的识别。
- 宽屏背光液晶显示屏：显示屏的大数字字便于阅读厚度测量读数。此外，如使用场致发光的背光显示，屏幕内容无论在暗处还是阳光下都会清晰可见。
- MG2-XT型仪器和MG2-DL型仪器都配备有Olympus® THRU-T®（穿透镀层）功能、B扫描，及带有波
形调节的可选实时A扫描。
可在3种仪器中选择
PANAMETRICS MG2
Panametrics® MG2型测厚仪具有许多基本的功能，如：小值/值模式，以每秒20个读数快速测量和回放小厚度值；冻结模式，可即刻捕捉关键厚度读数；位补偿模式，可发挥探头的性能。该价格合理的手持式测厚仪还具有其它多种功能，可用于在现场进行的快速测量。
PANAMETRICS MG2-XT
Panametrics® MG2-XT型测厚仪具有与Panametrics MG2型测厚仪相同的功能。该测厚仪由于增加了B扫描、增益调整、自动灵敏度优化、回波到回波、Olympus® THRU-T®（穿透镀层）、差值模式、高/低报警、可选动态A扫描等测量功能，可在条件恶劣的应用中发挥更高的效能。这款测厚仪是测量表面涂有镀层或漆层的材料厚度的理想的仪器。
PANAMETRICS MG2-DL
Panametrics® MG2-DL是MG2系列测厚仪中的一款仪器。该仪器不具有Panametrics MG2堠吀謀仪器的功能，还装有一个基于文件的通用的字母数字数据记录器，可存储增量、顺序、两维及Boiler格式的文件。使用可选的GageView™ Pro接口程序，可以在计算机和测厚仪之间双向传输数据。
MG2系列腐蚀测厚仪可选探头（部分）
| 探头型号 | 频率 | 探头尺寸 | 温度范围 | 测量范围(钢） |
| D790 | 5.0MHz | 11.0mm | -20-500℃ | 1-500mm |
| D791 | 5.0MHz | 11.0mm | -20-500℃ | 1-500mm |
| D791-RM | 5.0MHz | 11.0mm | -20-400℃ | 1-500mm |
| D792 | 10.0MHz | 7.2mm | 0-50℃ | 0.5-25mm |
| D794 | 5.0MHz | 7.2mm | 0-50℃ | 0.75-50mm |
| D797 | 2.0MHz | 22.9mm | -20-400℃ | 2.5-500mm |
| D7226 | 7.5MHz | 8.9mm | -20-150℃ | 0.71-100mm |
| D798 | 7.5MHz | 7.2mm | -20-150℃ | 0.71-100mm |
| D799 | 5.0MHz | 11.0mm | -20-150℃ | 1-500mm |
| MTD705 | 5.0MHz | 5.1mm | 0-50℃ | 0.75-19mm |
Panametrics MG2系列技术规格
测量
测量模式：使用双晶探头的脉冲回波法
厚度测量范围：0.50 mm～635.00 mm，厚度测量范围取决于材料、探头、表面条件和温度。
材料声速校准范围：0.508 mm/μs～18.699 mm/μs
显示模式
• 厚度的数字式读出形式
• 显示横截面图像的B扫描
• 实时A扫描或称波形图（可选）
• dB栅格（Panametrics MG2-DL型）
厚度显示分辨率：低：0.1 mm标准：0.01 mm
测量速率：标准：每秒钟4次测量。快速：每秒钟20次测量。
小值/值模式：在每秒钟20次测量的速率下，测量和回放小或厚度值。
冻结模式：冻结图像，以瞬时捕获关键厚度值。小化探头的耦合提离误差，易于高温测量。
自动探头识别：自动识别列表中的Panametrics® 探头类型。调整内部参数，并校正V形声程误差。
位补偿：补偿探头温度和位偏移。显示保持/空白模式：保持或清除测量后的显示视图。
场致发光背光显示：可选“开启”或者“自动开启”。
接收器带宽：1 MHz～18 MHz（–3 dB）
公制/美制单位模式：毫米或者英寸。
显示语言：英语、法语、德语、西班牙语、意大利语及其它自定义语言。
电源供应
电池：3节AA碱性电池。
工作时间：电池供电时间一般为150小时；如使用背光，可连续供电30 个小时。
低电量显示器：持续显示电池的电量状态。
省电模式：自动电源关闭/持续开启。
一般规格
合IP65标准：溅、撞击机壳。密封、以颜分功能的键盘，带触感及声音反馈。
危险区域操作：可在美军标准MIL-STD-810E，方法511.3，程序1所规定的环境中操作。
工作温度范围：
–10 °C～50 °C
外型尺寸（宽 x 高 x 厚）：84.0 mm x 152.4 mm x 39.6 mm
重量：340 g
MG2-XT与MG2-DL的技术规格
Olympus® THRU-T®（穿透镀层）测量：
利用单个底面回波（使用D7906-SM和D7908探头），测量镀层厚度和金属的实际厚度。
穿透漆层回波到回波：利用多重底面回波，不计涂层厚度，显示金属的真实厚度值。
• 自动回波到回波
• 手动回波到回波（适用于实时A扫描模式），可进行：
-- 增益调整
-- 邻区抑制
-- 回波抑制
增益调整：
• 为增益调整预设高、低或标准增量。
• 手动增益调整的增量可被设为1 dB（适用于实时A扫描模式）。
邻区抑制：可抑制由于材料表面粗糙或不规则而造成的噪声回波（适用于A扫描模式）。
自动灵敏度增益优化：可根据厚度和材料的噪声水平，自动或降低正常测量的灵敏度。
报警模式：可编程的高/低设置点，带视听指示器。
差值模式：显示实际厚度测量值与自定义参考值之间的差值。
带有波形调节的实时A扫描：用户使用可选的实时A扫描模式功能，可以直接在仪器的视图中查看声波形（或A扫描）。该模式包括以
下功能：手动增益调整、邻区抑制、回波抑制、延迟。
PANAMETRICS MG2-DL内置数据记录器
数据记录器：Panameterics® MG2-DL型仪器通过U端口，可以识别、存储、回放、清除及传输厚度测量读数和仪器的配置信息。
存储量：可存储多达31000个厚度测量读数，或1300个带有厚度测量的波形（带有波形选项）。
存储的数据文件：每个被存储的厚度读数，连同测量状态标记及可识别声速、探头等参数的设置编码，都被归档。
文件名长度：8位字母数字字。
标识码：10位字母数字标识码系统，可识别或定位所存储的数据。
文件模版：增量型、顺序型、2维栅格、Boiler及PC中的自定义文件模版。
标准配置
MG2型数字声测厚仪、手腕带、测试棒、耦合剂、用户手册、塑料携带箱（指Panametrics MG2-XT型和Panametrics MG2-DL型仪器）、2年有限。标准配置还包括一个双晶探头。
选购附件
2214E： 5阶梯试块，美制单位。
2214M：5阶梯试块，公制单位。
MG/EW：延长。
MG2/RPC：橡胶保护套。
GageView：用于Panametrics MG2-DL的PC机接口程序。
MG2/XTRETRO：将Panametrics MG2型转换为Panametrics MG2-XT型的转换器。
MG2XT/DLRETRO：将Panametrics MG2-XT转换Panametrics MG2-DL型的转换器。
MG2/DLRETRO：将Panametrics MG2型转换为Panametrics MG2-DL型的转换器。
MG2/WF：带有波形调节的实时A扫描用于Panametrics MG2-XT型与PanametricsMG2-DL型仪器（不适用于
Panametrics MG2型仪器）。
U/ADP-115：AC-115电源供应
U/ADP-230：AC-230电源供应
欲查询其它有关支架、连接杆及耦合剂的信息，请与我联系。
