CC1
1、使用范围：本产品损耗低、容量稳定性高、电容量变化与温度之关系呈预定直线关系。适用于谐振回路和需要补偿温度效应之电路中。
2、试验环境：
a、标准状态：试验环境如无规定，以标准试验环境（温度15℃~35℃，相对湿度45~75%RH，气压86~106kPa）进行试验。
b、测试环境温度：25℃&plun;2℃
相对湿度：60~70%RH
气压：86~106kPa
3、测试条件：
a、容量/损耗测试： 测试频率：1MHz 测试电压：1V
b、耐压测试：2.5UR（UR：额定电压）
c、缘电阻IR： 测试电压：额定电压 测试时间：60S
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1、使用范围：本产品适用于对损耗和容量稳定性要求不高的电路中,如低频旁路、耦合、滤波、退耦等，亦可用于控制电路作时间常数元件和在能量转换电路中使用。
2、试验环境：
a、标准状态：试验环境如无规定，以标准试验环境（温度15℃~35℃，相对湿度45~75%RH，气压86~106kPa）进行试验。
b、测试环境温度：25℃&plun;2℃
相对湿度：60~70%RH
气压：86~106kPa
3、测试条件：
a、容量/损耗测试： 测试频率：1KHz 测试电压：1V
b、耐压测试：2.5UR（UR：额定电压）
c、缘电阻IR： 测试电压：额定电压 测试时间：60S
CS1
1 1、使用范围：本产品具有容量高、体积小的特点，适用于缘电阻低的低阻电路中，即耐压较低的产品中。 2、 试验环境： a、标准状态：试验环境如无规定，以标准试验环境（温度15℃~35℃，相对湿度45~75%RH，气压86~106kPa）进行试验。 b、测试环境温度：25℃&plun;2℃ 相对湿度：60~70%RH 气压：86~106kPa 3、测试条件： a、容量/损耗测试： 测试频率：1KHz 测试电压：0.1V b、耐压测试：1.5UR（UR：额定电压） c、缘电阻IR： 测试电压：额定电压 测试时间：60S |