一、基本参数:
测试范围:0.15-400μm;
重复性:<1%;
复现性:<2%;
系统误差:<2%;
激光发生器:半导体激光器λ=650nm,功率>3mw;
光学系统:平行光束;
软件运行环境:Windows95/98/XP/vista;
计算机接口:U2.0;
电源电压:85-264V/50Hz/60Hz;
测试原理:激光散射。
二、仪器特点:
1.多达82个采样通道,了测试结果的分辨率;光电器件制作在同一个硅片上,了光电阵列的使用寿命;交叉扇形排列方式(本公司),了受光面积,了灵敏度;
2.微量进样方式,采用蠕动泵的全自动循环进样方式,采用虹吸泵自动循环进样方式,满足不同客户的测试需求,仪器标配MS-01微量进样装置;
3.全量程单镜头测量,的光学组件都固定在的基座上,光学系统出厂前紧固好,使仪器性能更加稳定;
4.采用半导体激光器,具有使用寿命长,光学参数稳定,不怕振动等一系列优点,连续工作时间长达24个小时,满足用户连续大负荷测试的要求。
三、适用领域:
各种非金属粉:如重钙、轻钙、滑石粉、高岭土、石墨、硅灰石、水镁石、重晶石、云母粉、膨润土、硅藻土、黏土等;
各种金属粉:如铝粉、锌粉、钼粉、钨粉、镁粉、铜粉以及稀土金属粉、合金粉等;
其他粉体:如催化剂、水泥、磨料、医药、农药、食品、涂料、染料、荧光粉、河流泥沙、陶瓷原料、化工原料、各种乳浊液等。