标准样品和校准附件
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显微分析标准样品
显微分析标准样品整修服务
其它电子显微镜标准样品和校准附件
测定K系数的LowZiCal™电子显微镜样品
Geller标准样品
MAG*I*CAL电子显微镜校准样品
AEM标准样品(金属薄片)
扫描探针显微镜
石棉标准样品
用于显微镜校准的SPI微球（乳胶珠）
NiOX 试样（用于电子显微镜）
图像分析和性能标度（用于扫描电子显微镜）
栅网孔
金属
尼龙
扫描电子显微镜放大倍率校准架
扫描电子显微镜放大倍率参考标准（Geller显微分析实验室）
扫描电子显微镜栅格图像校验样品
校准Quantifoil®多孔碳膜（用于扫描电子显微镜）
校准扫描电子显微镜载物台
X-Checker™X射线能谱仪（EDS）操作台
表面金样
碳试样
磁带样品
表面锡样
碳试样(SEM)
HOPG试样(SEM)
铝钨试样
附着于碳表面的锡样
SIRA™校准载物台（用于扫描电子显微镜）
均匀微球（用于显微镜校准）
SPI镜台测微计
Peak™校准玻璃尺
可追溯标准的MR-1显微尺
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