SlimKIC 2000简单化了曲线测量,通过把工艺归纳为一个单一的数据—Process Window Index?(PWI),这样的话你就可真正地知道你的曲线到底有多好了。简单化的用户操作界面指导操作员贯穿于整个曲线测量过程,把潜在的不正确炉子设置降到了并减少了出错率。
曲线归纳成一个单一的数据
为了准确的归类曲线,KIC软件使用了工艺制程窗口(PWI)。PWI通过使用了一个简单的数字对这个曲线是否合工艺窗口进行了数据化和客观化的体现。通过在可选的适合工艺窗口的曲线的比较和排列,PWI可协助你得到优化工艺曲线。越小的PWI,就意味着你的工艺效率越高、越稳定。
:
±1.2C
分辨率:
Variable 0.3C to 0.1C
内部操作温度:
0C to 105C
热电偶兼容性:
Te K,9 or 12 channels
温度范围:
-150C to 1050C
电源要求:
标准 9V 碱性电池
热接收器:
433.92 MHz(Dual Unit Model only)
尺寸:
规格见下面的温度容限表
数据存储模式:在完成曲线测量后,数据通过线到电脑上。
双重传输模式:数据在测量过程中实时地传输到电脑上。同时也存储在仪器内部以便在测量完后。
计算机配置
系统要求
400 MHz 处理器,赛扬/128 Mb RAM1
1 Gb 可用存储空间(用于产品历史纪录)
视频 1024 x 768分辨率/16-bit
1可用串行口或 U端口2
1可用并行口或 U 端口用于软件钥匙选项
Microsoft Windows 2000 or XP3
1.当KIC2000软件和炉子软件运行在一个电脑上,和/或者是装有其他KIC软件选项时,可能需要更快的CPU和更大的RAM.
2.可能需要一个U 适配器来连接SlimKIC 2000用于曲线测量。
3.如果你在操作系统出现的问题出上面所列出的问题,请连接KIC。