一、仪器简介
SSP3112-X型LED芯片分光分色测试系统由SSP3112型LED光色电特性分析系统和LED芯片测试平台组成。光强测量选用近场测量条件，光纤耦合。
二、主要功能
◆快速（1-2S）测量芯片的光参数、电参数和色参数，并在软件上显示出数值以及光谱曲线。
◆可测量参数包括正向电压、正向电流；光强（mcd）、光通量（lm）；峰值波长、主波长、半宽度（带宽）、色温、色坐标（x，y）或（u，v）值、色纯度、显色指数等。
◆用户可根据需要对波长和色坐标自行多256档位的分档，测试的同时软件会按照客户的分档范围自行显示档位。
◆系统具有数据库功能，可以显示、保存、查询、打印测量的各项参数和光谱能量曲线图形。
◆软件自动生成报表，并可直接连接打印机进行打印。
SSP3112-X型LED芯片分光分色测试系统由SSP3112型LED光色电特性分析系统和LED芯片测试平台组成。光强测量选用近场测量条件，光纤耦合。
二、主要功能
◆快速（1-2S）测量芯片的光参数、电参数和色参数，并在软件上显示出数值以及光谱曲线。
◆可测量参数包括正向电压、正向电流；光强（mcd）、光通量（lm）；峰值波长、主波长、半宽度（带宽）、色温、色坐标（x，y）或（u，v）值、色纯度、显色指数等。
◆用户可根据需要对波长和色坐标自行多256档位的分档，测试的同时软件会按照客户的分档范围自行显示档位。
◆系统具有数据库功能，可以显示、保存、查询、打印测量的各项参数和光谱能量曲线图形。
◆软件自动生成报表，并可直接连接打印机进行打印。
