1产品名称及机型指标介绍:
1.1.产品名称及型号：贵金属检测仪X-3600型
1.2.制造商：天津市博智伟业科技有限公司
1.3.X-3600贵金属检测系统包括：X-3600贵金属检测仪一台，贵金属分析软件一套，密度分析软件一套。
1.4.仪器简介：X-3600型贵金属检测仪是一种体现X射线荧光分析技术新进展的能量色散X射线荧光光谱仪。它采用低功率小型X光管为激发源，电制冷硅半导体探测器为探测单元，再加上我公司专门开发的应用软件，充分发挥各部件的优异性能，了整台仪器的高分辨率及通用适应性。任何需要多元素同时分析的地方，正是它大有作为之处。仪器检测能力强，分辨率高，适用于各行业对不同元素进行检测。在不同工作环境下分析范围从Al（13号元素）到U（92号元素）。分析，无需制样，测试时间从几秒到几分钟可调。检测从PPM级别到别。
1.5.产品图片
X-3600型
1.6.工作条件
●工作温度：15-30℃
●相对湿度：≤70%
●电 源：AC: 220&plun;5V
1.7.技术性能及指标:
1.7.1.分析元素范围：从铝（13号元素）到铀（92号元素）
1.7.2.元素分析含量范围：1ppm到99.99%
1.7.3.测量时间：30秒到180秒可调，一键式快速测量3.5秒可出结果
1.7.4.元素同时分析能力：26种元素
1.7.5.测量样品型态：固体，粉末，液体
1.7.6.测量：以黄金样品为例，高含量样品（含量在75%以上）误差&plun;0.1%，低含量样品（含量在75%以下）误差&plun;0.3%
1.7.7.多次测量重复性：可达0.1％
1.7.8.测量次数：任意可调，且在多次测量时可做平均值及标准偏差测量
1.7.9.探测器：美国AMPTEK原装Si-Pin探测器，探测面积6mm2分辨率149eV
1.7.10.X光管：W靶X光管，对金银铂钯等贵金属激发效率更高
1.7.11.高压电源：美国Spellman原装高压电源，功率50W，50kV,1mA
1.7.12.密度检测系统：密度检测仪及检测软件一套，可以对样品的密度进行准确分析鉴定，从而实现对未知样品内部材料的定性定量分析（本系统具有性）
1.7.13.镀层检测：仪器可对不同基体上的不同金属镀层进行多层检测，并得出准确结果（使用者可以根据需求进行二次开发）
1.7.14.样品成像定位系统：内置自感光500万像素摄像头及的定位软件，方便样品的局部定位测量
1.7.15.定量分析方法：基本参数法，理论Alpha系数法，经验系数法，多元回归法等（国内同行业采取此类综合计算方法）
1.7.16.定性分析方法：元素自动寻峰，Kl谱线标记法，峰谱比对法等
1.7.17.操作软件：开放的可供客户自行开发和升级的工作软件，真正实现费用升级，使一机多能。
1.7.18.操作模式：一键式操作全电脑控制与人工选择测试方法两种测试模式，满足不同测试单位和测试人员的要求
1.7.19.银铜位校准：银，铜位同时校准，使仪器校准更加精准，修正工作曲线，使测量结果（同行业中采取此校准方法）
1.7.20.峰位自调系统：当仪器峰位有所偏移时，软件可自动调试恢复仪器到正常测量状态（同行业中采取软件峰位自调系统）
1.7.21.三重系统：更换样品时X光管自动切断电压电流；样品仓打开，X光管快门自动闭锁；仪器多层屏蔽舱盖，X射线外溢（同行业中采取三重系统）
1.7.22.温度控制系统：内部风冷水冷双循环冷却，限度降低X光管工作温度延长光管使用寿命，且仪器长时间工作稳定，测量准确
1.7.23.硬件结构：仪器双箱体结构，屏蔽干扰，增加仪器整体稳定性
1.7.24.样品仓：方便大型样品的检测
1.7.25.测试：测试根据客户要求设计
1.7.26.长期工作稳定性：为0.1％；
1.7.27.温度适应范围：为15℃至30℃
1.7.28.工作电源：交流220&plun;5V（建议配置交流净化稳压电源）
2.仪器硬件部分主要配置
2.1 Si-PIN半导体探测器
技术指标及功能:
2.1.1.生产厂商：美国Amptek公司
2.1.2探测器类型：电制冷Si-PIN
2.1.3探测面积：6mm2
2.1.4硅活化区厚度：300um
2.1.5探测器分辨率：对于55Fe，@5.9keV 对于12us的形成时间，半高宽为149eV
2.1.6探测器窗口：铍窗，25um厚
2.2 X光管
技术指标及功能:
2.2.1.低功率X射线管（W靶）
2.2.2.使用寿命7000-10000小时
2.2.3.产生X射线激发源
2.3高压电源
技术指标及功能:
2.3.1.生产厂商：美国Spellman公司
2.3.2.电压和电流从至满量程连续可调：50KV，1mA
2.3.3.电压调整率：负载调整率：从空载到满载，电压变化为满量程0.01 %
2.3.4.线性调整率：对于规定的输入电压范围，该数值为满量程0.01%
2.3.5.电流调整率：负载调整率：从空载到满载，电流变化为满量程0.01%
线性调整率：对于规定的输入电流范围，该数值为满量程0.01%
2.3.6.稳定性：经过半小时预热后，每8小时变化不0.05%
2.3.7.温度系数：温度变化一度，电压变化不过0.01%
2.4 MCA多道分析器:
对采集来的信号进行数据处理,并将处理结果传输给计算机
2.5 摄像头（CCD）
试样观察并储存样本图像
2.6 样品腔
样品腔尺寸（220mm×200mm×150mm）
3.整机硬件技术规格：
3.1外型尺寸：600mm×530mm×330mm
3.2可测试样品大小：关仓测量：220mm×200mm×150mm，开仓测量：无限大
3.3仪器重量：50公斤
3.4工作环境温度：0——30℃
3.5工作环境相对湿度：≤70%
3.6元素分析范围：铝（Al）——铀（U）
3.7含量分析范围：1PPM——99.99%
3.8测量时间:60秒到180秒可调，一键式快速测量3.5秒可出结果。
3.9激发源：低功率X射线管（W靶）
3.10高压电源：美国Spellman原装高压电源
3.11探测器：美国Amptek原装电制冷Si-Pin半导体探测器
3.12仪器分辨率：锰元素在5.89keV能量位置的峰，分辨率至少为180&plun;10eV（合中华人民共和国质量监督检验检疫总局、中国标准化管理委员会2008年12月31日发布2009年7月1日实施GB/T 新标准对X射线荧光光谱分析仪：锰元素在5.89keV能量位置的峰，分辨率至少为200eV标准要求）。
3.13多道分析器：2048道
3.14工作电源：交流 220V 50Hz
4.仪器软件配置
软件功能：
软件可视频观察样品的放置
同时可分析20多种元素，分析时间短到30秒-120秒
可动进行定性分析，准确
可自动对仪器初始化校准
具有多种光谱拟合分析方法
